申请/专利权人：紫光同芯微电子有限公司

申请日：2020-12-25

公开（公告）日：2022-01-21

公开（公告）号：CN215599306U

主分类号：G01R31/28(20060101)

分类号：G01R31/28(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.01.21#授权

摘要：本实用新型提供了用于检测芯片闩锁效应的测试系统，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；当进行检测待测芯片闩锁效应测试时，使用万用表测量待测芯片电源管脚的电流值，判断触发的脉冲电压信号是否造成闩锁效应，使得该测试系统具有快速、易实现，测试过程简化且低成本的特点。

主权项：1.一种用于检测芯片闩锁效应的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括稳压电源、PCB板、待测芯片和万用表，其中，PCB板包括稳压电源电压装置、电信号脉冲产生装置、待测设备插座和触发开关；稳定电源通过其电源接口和地接口连接PCB板上的稳压电源电压装置，稳压电源电压装置分别向待测设备插座、电信号脉冲产生装置和触发开关提供电源；触发开关控制稳压电源提供电源，并选择待测芯片待测PIN；待测设备插座连接待测芯片，万用表串联连接待测芯片的电源管脚，测试待测芯片电源管脚的电流值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 紫光同芯微电子有限公司 用于检测芯片闩锁效应的测试系统

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD