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【发明授权】ACK/NACK检测方法、装置及基站_上海华为技术有限公司_201810929439.0 

申请/专利权人:上海华为技术有限公司

申请日:2018-08-15

公开(公告)日:2022-06-10

公开(公告)号:CN110838896B

主分类号:H04L1/16

分类号:H04L1/16;H04W28/04

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2022.06.10#授权;2020.03.20#实质审查的生效;2020.02.25#公开

摘要:本申请实施例公开了一种ACKNACK检测方法、装置及基站。所述ACKNACK检测方法包括:获取待检测序列;确定所述待检测序列对应的第一相关值集和第二相关值集;根据所述第一相关值集中的相关值生成第一度量值,根据第一相关值和第二相关值生成第二度量值;当所述第一度量值大于或等于第一门限,且所述第二度量值小于或等于第二门限时,将所述待检测序列确定为所述第一相关值对应的ACKNACK序列。本申请实施例,通过设定双重检测条件,从两个维度检测待检测序列是否是ACKNACK序列,从而能够平衡漏检和虚警,提高检测性能,进而,提高通信性能。

主权项:1.一种应答消息ACK否定应答NACK检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取待检测序列;确定所述待检测序列对应的第一相关值集和第二相关值集,所述第一相关值集包括,所述待检测序列与应答消息ACK否定应答NACK序列集中每个ACKNACK序列的相关值,所述第二相关值集包括,所述待检测序列与数据序列集中每个数据序列的相关值,所述相关值指示两序列的相似程度,所述相关值的大小与相应两序列的相似程度正向对应,所述ACKNACK序列集中每个ACKNACK序列,以及数据序列集中每个数据序列,均与所述待检测序列的类型相同;根据所述第一相关值集中的相关值生成第一度量值,根据第一相关值和第二相关值生成第二度量值,所述第一相关值是所述第一相关值集中最大的相关值,所述第二相关值是所述第二相关值集中最大的相关值;当所述第一度量值大于或等于第一门限,且所述第二度量值小于或等于第二门限时,将所述待检测序列确定为所述第一相关值对应的ACKNACK序列。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海华为技术有限公司 ACK/NACK检测方法、装置及基站

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