【发明公布】探头和测量系统_CDIA资产控股公司_202080090739.X 

申请/专利权人:CDIA资产控股公司

申请日:2020-12-15

公开(公告)日:2022-08-12

公开(公告)号:CN114901138A

主分类号:A61B5/0531

分类号:A61B5/0531;A61B5/00

优先权:["20200109 EP 20150887.6"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2022.08.12#公开

摘要:用于对皮肤202进行阻抗和吸光度组合式测量的探头200包括二维阵列206的面向皮肤的子探头208,每个面向皮肤的子探头208包括光学纤维端部210,211,该光学纤维端部围绕其圆周包覆有电极212。测量系统100被配置为对皮肤202同时进行阻抗测量和光测量,并且包括:探头200;阻抗测量设备118,该阻抗测量设备被配置为跨面向皮肤的子探头208的多对电极212进行成对阻抗测量;以及光测量设备112,该光测量设备被配置为通过面向皮肤的子探头的多个光学纤维端部210,211进行吸光度测量。

主权项:1.一种用于对皮肤202进行阻抗和吸光度组合式测量的探头200,该探头包括二维阵列206的面向皮肤的子探头208,每个所述面向皮肤的子探头208包括光学纤维端部210,211,该光学纤维端部围绕其圆周包覆有电极212。

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权利要求:

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