【发明公布】成像系统及其操作方法_深圳帧观德芯科技有限公司_202080090872.5 

申请/专利权人:深圳帧观德芯科技有限公司

申请日:2020-02-26

公开(公告)日:2022-08-12

公开(公告)号:CN114902651A

主分类号:H04N5/365

分类号:H04N5/365;H04N5/361;G01T1/24

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2022.08.12#公开

摘要:本文公开了一种方法,其包括:对于i=1,…,N,将同一辐射检测器100的像素i150暴露于辐射i,从而在所述像素i150中引起表观信号i,其中在所述像素i150暴露于所述辐射i时,所述像素i150处于温度i;对于i=1,…,N,确定所述像素i150的所述温度i;并且对于i=1,…,N,根据所述表观信号i和所述温度i确定所述辐射i的相同辐射特性的实际值i,其中N为正整数。所述辐射特性可以是辐射强度、辐射相位或辐射极化。

主权项:1.一种方法,其包括:对于i=1,…,N,将同一辐射检测器的像素i暴露于辐射1,i,从而在所述像素i中引起表观信号1,i,其中在所述像素i暴露于所述辐射1,i时,所述像素i处于温度1,i;对于i=1,…,N,确定所述像素i的所述温度1,i;并且对于i=1,…,N,根据所述表观信号1,i和所述温度1,i确定所述辐射1,i的实际强度1,i,其中N为正整数。

全文数据:

权利要求:

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