申请/专利权人：大连理工大学

申请日：2021-03-15

公开（公告）日：2022-09-20

公开（公告）号：CN115077579A

主分类号：G01D5/353

分类号：G01D5/353

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.10.11#实质审查的生效;2022.09.20#公开

摘要：本发明公开了一种增加探测长度的探测单元，用于延长分布式物理量测量装置的探测范围，其特征在于，包括：光纤耦合器，所述光纤耦合器包括本体，用于耦合所述分布式物理量远端探测装置以将探测光引入本体的至少第一端口；包括反射结构以向所述本体提供参考光的第二端口；用于与传感光纤相耦合以将包括被测物理量信息的测量光引入所述本体的第三端口。本发明将一种增加探测长度的分布式物理量探测单元应用在基于光频域反射技术的分布式物理量测量装置中，测量主机和被测结构之间不再占用系统测量长度，进而可以将传感光纤布置于离主机很远的地方，适用于测量主机和被测结构相距较远的测量场合。本发明还公开了对应的分布式测量装置。

主权项：1.一种增加探测长度的探测单元，用于延长分布式物理量测量装置的探测范围，其特征在于，包括：光纤耦合器，所述光纤耦合器包括本体，用于耦合所述分布式物理量远端探测装置以将探测光引入本体的至少第一端口；包括反射结构以向所述本体提供参考光的第二端口；用于与传感光纤相耦合以将包括被测物理量信息的测量光引入所述本体的第三端口；其中，所述本体被配置为能够将自所述第一端口导入的探测光传输至所述第二端口和第三端口，以及使得来自第二端口的参考光以及将来自所述第三端口的所述测量光发生干涉并传输至第一端口。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 大连理工大学 增加探测长度的探测单元及分布式物理量测量装置

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