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【发明公布】单站激光跟踪测量设备和方法_北京天科微测科技有限公司_202210866102.6 

申请/专利权人:北京天科微测科技有限公司

申请日:2022-07-22

公开(公告)日:2022-09-20

公开(公告)号:CN115079185A

主分类号:G01S17/06

分类号:G01S17/06;G01S7/481;G01S17/08;G01S17/66;G01C3/00;G01C3/02;G01C15/00;G05D3/12

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.03.17#授权;2022.10.11#实质审查的生效;2022.09.20#公开

摘要:本发明涉及测量技术领域,尤其涉及一种单站激光跟踪测量设备和方法。设备包括:光机结构;安装设于光机结构上的转台部;安装设于转台部上的第一反射元件;设于光机结构内的粗测距模块,用于测量目标物的粗距离值;设于转台部上的粗瞄准模块,用于基于目标物反射的第一光源的第一脱靶量驱动转台部进行第一旋转;设于光机结构内的精跟踪模块,用于基于第一反射元件反射的目标物的第二光源的第二脱靶量和粗距离值驱动转台部进行第二旋转,以及设于光机结构内的精测距模块,用于在第二旋转使得粗测距模块发射的光源经第一反射元件瞄准至目标物的目标区域时,测量目标物的精距离值。本发明用以提高对运动目标进行目标跟踪测量的测量效率和测距精度。

主权项:1.一种单站激光跟踪测量设备,其特征在于,包括:光机结构;转台部,安装设于所述光机结构上;所述转台部至少具有两个转动方向;第一反射元件,安装设于所述转台部上;粗测距模块,设于光机结构内;用于测量目标物的粗距离值;粗瞄准模块,设于转台部上,用于基于所述目标物反射的第一光源的第一脱靶量驱动所述转台部进行第一旋转,使得粗测距模块发射的光源经第一反射元件照射至目标物;精跟踪模块,设于光机结构内,用于基于第一反射元件反射的目标物的第二光源的第二脱靶量和所述粗距离值驱动所述转台部进行第二旋转,以及精测距模块,设于光机结构内,用于在所述第二旋转使得粗测距模块发射的光源经第一反射元件瞄准至目标物的目标区域的情况下,测量目标物的精距离值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京天科微测科技有限公司 单站激光跟踪测量设备和方法

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