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【发明公布】用于定位、成像、检测、判别的电子装置及方法_广达电脑股份有限公司_202110355845.2 

申请/专利权人:广达电脑股份有限公司

申请日:2021-04-01

公开(公告)日:2022-09-20

公开(公告)号:CN115079152A

主分类号:G01S13/06

分类号:G01S13/06;G01S13/89

优先权:["20210310 TW 110108415"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2022.10.11#实质审查的生效;2022.09.20#公开

摘要:一种电子装置,用以对一目标物进行定位、成像、检测、姿势判别、形状判别,包括:多个雷达及至少一处理器。每一这些雷达包括至少一发射天线及排列成阵列天线的多个接收天线。处理器执行包括:将接收天线所接收的射频信号转换为一测距数据;测距数据记录每一接收天线与目标物的一距离,以及对应距离的一接收强度;生成一三维像素数据,用以指示三维像素数据指示在一三维空间中距离及接收强度的对应关系;执行一点生成算法,依据三维像素数据及一接收强度阈值,在三维空间中生成多个点;执行一聚类分析算法,在这些点中辨别对应于目标物的多个目标点,而得到目标物的位置。

主权项:1.一种电子装置,用以对一目标物进行定位、成像、检测、姿势判别及形状判别,包括:多个雷达,其每一者包括至少一发射天线及多个接收天线,这些接收天线是排列为二维的阵列天线;至少一处理器,执行包括:将这些接收天线所接收的射频信号转换为一测距数据;该测距数据记录每一这些接收天线与该目标物的一距离,以及对应该距离的一接收强度;生成一三维像素数据,用以指示在一三维空间中该距离及该接收强度的对应关系;执行一点生成算法,依据该三维像素数据及一接收强度阈值,在该三维空间中生成多个点;以及执行一聚类分析算法,在这些点中辨别对应于该目标物的多个目标点,而得到该目标物的位置。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 广达电脑股份有限公司 用于定位、成像、检测、判别的电子装置及方法

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