申请/专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所

申请日：2022-06-14

公开（公告）日：2022-09-20

公开（公告）号：CN115080318A

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22;G06F11/263;G11C19/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.10.11#实质审查的生效;2022.09.20#公开

摘要：本发明提供了一种FPGA故障注入与故障定位方法、装置、设备、存储介质，方法包括：获取用户设计所使用FPGA中资源的Tile级坐标；利用FPGA的特征参数将资源的Tile级坐标转化为相应的帧地址和起始位偏移；对所使用资源的配置位进行逐位翻转注入，并记录每一配置位注入之后FPGA输出的数据；根据FPGA输出的数据确定会导致FPGA功能异常的配置位，反推出所有由于故障注入而出错的Tile级资源坐标，进而反推出资源对应的用户设计。本发明通过通用的Tile级资源坐标转化方式，使故障注入与故障定位适用于不同型号的SRAM型FPGA，大大提高了通用性，并且根据故障注入之后的结果信息能够自动反推出敏感的用户设计，方便设计人员对FPGA设计的可靠性进行评估，为后续的加固措施提供依据。

主权项：1.一种针对SRAM型FPGA的故障注入与故障定位方法，其特征在于，包括：获取用户设计所使用FPGA中资源的Tile级坐标；设置FPGA的特征参数，利用FPGA的特征参数将资源的Tile级坐标转化为相应的帧地址和起始位偏移；对所使用资源的配置位进行逐位翻转注入，并记录每一配置位注入之后FPGA输出的数据；根据FPGA输出的数据确定当前正在注入的配置位是否会导致FPGA功能异常，若当前正在注入的配置位会导致FPGA功能异常，则根据配置位对应的帧地址和起始位偏移反推出所有由于故障注入而出错的Tile级资源坐标，进而反推出资源对应的用户设计。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 FPGA故障注入与故障定位方法、装置、设备、存储介质

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