申请/专利权人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司

申请日：2022-07-11

公开（公告）日：2022-09-20

公开（公告）号：CN115078123A

主分类号：G01N3/20

分类号：G01N3/20;G01N3/04

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.10.11#实质审查的生效;2022.09.20#公开

摘要：本申请公开了一种弯折测试装置，所述弯折测试装置包括基座；转动组件，设置于所述基座上，包括设置于所述基座上的固定载板和相对于所述固定载板绕第一方向转动的转动载板；滑动组件，包括与所述转动载板沿第二方向滑动连接的滑动载板，所述第一方向与所述第二方向垂直；固定载具，用于承载待测试件，包括第一支撑板和与所述第一支撑板铰接的第二支撑板，所述第一支撑板设置于所述固定载板上，所述第二支撑板设置于所述滑动载板上，通过各机构之间的相互配合，使得该弯折测试装置具有较高的测试精准度以及测试兼容性。

主权项：1.一种弯折测试装置，其特征在于，所述弯折测试装置包括：基座；转动组件，设置于所述基座上，包括设置于所述基座上的固定载板和相对于所述固定载板绕第一方向转动的转动载板；滑动组件，包括与所述转动载板沿第二方向滑动连接的滑动载板，所述第一方向与所述第二方向垂直；固定载具，用于承载待测试件，包括第一支撑板和与所述第一支撑板铰接的第二支撑板，所述第一支撑板设置于所述固定载板上，所述第二支撑板设置于所述滑动载板上。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 弯折测试装置

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