申请/专利权人：欧姆龙株式会社

申请日：2019-12-26

公开（公告）日：2022-09-20

公开（公告）号：CN112639392B

主分类号：G01B11/00

分类号：G01B11/00

优先权：["20190111 JP 2019-003677","20190919 JP 2019-170426"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.09.20#授权;2021.04.27#实质审查的生效;2021.04.09#公开

摘要：本发明提供一种光学测量装置及光学测量方法，可在不针对每个测量条件设定阈值的情况下判定在测量值中可能产生的噪声的有无。一种光学测量装置100，基于由对象物TA反射的反射光的光接收量来获得测量值，且包括：设定部52，基于与光学测量装置100的光量相关的特性信息，设定相对于反射光的每单位时间的光接收量的阈值；以及判定部53，基于阈值来判定测量值的噪声的有无。

主权项：1.一种光学测量装置，基于由对象物反射的反射光的光接收量来获得测量值，其特征在于，所述光学测量装置包括：设定部，基于与所述光学测量装置的光量相关的特性信息，设定相对于所述反射光的每单位时间的光接收量的阈值；判定部，基于所述阈值来判定所述测量值的噪声的有无；控制器，包括发出光的光源；以及传感器头，包括将所述反射光聚光的光学系统，所述设定部基于与所述控制器的光量相关的第一特性信息以及与所述传感器头的光量相关的第二特性信息来设定所述阈值，其中将所述反射光的每单位时间的光接收量作为基准值，将算出所述控制器相对于所述基准值的控制器相对系数作为所述第一特性信息，以及将算出所述传感器头相对于所述基准值的传感器头相对系数作为所述第二特性信息。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 欧姆龙株式会社 光学测量装置及光学测量方法

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