申请/专利权人:唐摩库柏公司
申请日:2021-01-07
公开(公告)日:2022-09-23
公开(公告)号:CN115104021A
主分类号:G01N21/41
分类号:G01N21/41;G01N21/23;G01B9/02
优先权:["20200226 KR 10-2020-0023424"]
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2022.10.14#实质审查的生效;2022.09.23#公开
摘要:提供三维折射率张量的测量方法及装置。一实施例的三维折射率张量的测量方法包括:以至少一个角度和偏振控制平面波的入射光的步骤;以及以偏振相关方式测量试片相对于以至少一个角度和偏振入射的上述入射光的二维衍射光的步骤,可以测量包含双折射的上述试片中的双折射率值和多个分子的排列方向的三维结构。
主权项:1.一种三维折射率张量的测量方法,其特征在于,包括:以至少一个角度和偏振控制平面波的入射光的步骤;以及以偏振相关方式测量试片相对于以至少一个角度和偏振入射的上述入射光的二维衍射光的步骤,上述三维折射率张量的测量方法测量包含双折射的上述试片中的双折射率值和多个分子的排列方向的三维结构。
全文数据:
权利要求:
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