申请/专利权人：安徽博微长安电子有限公司

申请日：2022-05-25

公开（公告）日：2022-09-23

公开（公告）号：CN115097394A

主分类号：G01S7/36

分类号：G01S7/36

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.10.14#实质审查的生效;2022.09.23#公开

摘要：本发明公开了一种旁瓣对消干扰样本选择方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、由上位机提供样本个数参数和外部初始门限，由数据源提供干扰数据；S2、读取外部初始门限、样本个数参数和干扰数据，将初始门限赋值给当前门限；S3、计算干扰数据大于当前门限的样本数，并判断该样本数是否大于等于样本个数参数；S4、若上述判断不成立，则将当前门限按照规则降低并赋值，重复执行步骤S3，直至成立；S5、当判断成立时从大于当前门限的样本数中选出所述样本个数参数个样本，将其送入旁瓣对消模块进行对消处理。本方法采用下降划门限的方法选择干扰样本，工程运算量适中，保证了干扰样本的可靠获取，同时保证了旁瓣对消功能抗干扰效果。

主权项：1.一种旁瓣对消干扰样本选择方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、由上位机提供样本个数参数和外部初始门限，由数据源提供干扰数据；S2、读取外部初始门限、样本个数参数和干扰数据，将初始门限赋值给当前门限；S3、计算干扰数据大于当前门限的样本数，并判断该样本数是否大于等于样本个数参数；S4、若上述判断不成立，则将当前门限按照规则降低并赋值，重复执行步骤S3，直至成立；S5、当判断成立时从大于当前门限的样本数中选出所述样本个数参数个样本，将其送入旁瓣对消模块进行对消处理。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 安徽博微长安电子有限公司 一种旁瓣对消干扰样本选择方法

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