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【发明公布】一种分析QLC阈值分布在各种条件下变化的方法_山东华芯半导体有限公司_202210799742.X 

申请/专利权人:山东华芯半导体有限公司

申请日:2022-07-08

公开(公告)日:2022-09-23

公开(公告)号:CN115101113A

主分类号:G11C29/12

分类号:G11C29/12;G11C29/38

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2022.10.14#实质审查的生效;2022.09.23#公开

摘要:本发明公开一种分析QLC阈值分布在各种条件下变化的方法,本方法首先确定需要分析的影响因素及影响因素列表,开始测试后通过数据分析模块分析读取数据发生读取错误的错误数,然后分析阈值分布每一个电压轴A在当前环境下测试的所有block内所有page所引起的错误数,得到一最大值FBCmax;然后在设定电压值范围内得出FBCmax最小的电压值,得到最优电压值集合,将最优电压值集合内电压值进行排列组合,即可得到在该影响条件下该page的最优电压值对。基于该方法,可以分析在各种条件影响下各个电压轴变化趋势、变化数量,查找适合该条件的电压值,减少出现操作错误的概率。

主权项:1.一种分析QLC阈值分布在各种条件下变化的方法,其特征在于:包括以下步骤:S01)、确定需要分析的影响因素及影响因素组合列表,并准备测试环境;S02)、在测试环境达到指定条件后,开始读取测试QLCBlock数据;S03)、读取页数据传入数据分析模块,数据分析模块分析读取数据发生读取错误的错误数,存入文件内;S04)、分析阈值分布每一个电压轴A在当前环境下测试的所有block内所有page所引起的错误数,得到一最大值FBCmax;然后在设定电压值范围内得出FBCmax最小的电压值,得到最优电压值集合;S05)、完成步骤S04)后,每个电压轴都得到最优电压值结合,将每个page的最优电压值集合内电压值进行排列组合,即可得到在该影响条件下该page的最优电压值对;S06)、利用数据分析模块分析每个电压轴所引起的错误数是多少,反向验证步骤S05)得出的每个最优电压值对是否符合纠错要求,将满足纠错需求的电压值对记录为QLCPage满足该条件的电压值对。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 山东华芯半导体有限公司 一种分析QLC阈值分布在各种条件下变化的方法

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