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【发明公布】电子元件检测系统_中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))_202210851735.X 

申请/专利权人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

申请日:2022-07-20

公开(公告)日:2022-09-23

公开(公告)号:CN115097252A

主分类号:G01R31/01

分类号:G01R31/01;G01R31/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2022.10.14#实质审查的生效;2022.09.23#公开

摘要:本申请涉及一种电子元件检测系统。所述电子元件检测系统包括:多个老化板;多个样品板,各样品板上均设有待测电子元件;样品板设置于老化板上,与老化板一一对应设置,并与老化板一一对应电连接;多个驱动板,与老化板一一对应电连接;检测控制装置,与各驱动板均电连接;检测控制装置用于设定测试条件、测试判定条件及测试控制信号,将测试控制信号传输至驱动板,并实时监测待测电子元件在测试过程中的运行状态,运行状态包括正常工作状态和失效状态;驱动板用于根据测试控制信号对待测电子元件进行测试。采用该电子元件检测系统能够提高检测效率。

主权项:1.一种电子元件检测系统,其特征在于,所述电子元件检测系统包括:多个老化板;多个样品板,各所述样品板上均设有待测电子元件;所述样品板设置于所述老化板上,与所述老化板一一对应设置,并与所述老化板一一对应电连接;多个驱动板,与所述老化板一一对应电连接;检测控制装置,与各所述驱动板均电连接;所述检测控制装置用于设定测试条件、测试判定条件及测试控制信号,将所述测试控制信号传输至所述驱动板,并实时监测所述待测电子元件在测试过程中的运行状态,所述运行状态包括正常工作状态和失效状态;所述驱动板用于根据所述测试控制信号对所述待测电子元件进行测试。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 电子元件检测系统

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