申请/专利权人：松下知识产权经营株式会社

申请日：2018-07-20

公开（公告）日：2022-09-23

公开（公告）号：CN111051853B

主分类号：G01N15/06

分类号：G01N15/06;F24F7/007;G01N21/47

优先权：["20170829 JP 2017-164406"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.09.23#授权;2020.05.15#实质审查的生效;2020.04.21#公开

摘要：粒子检测系统1，具备：检测气体中包含的粒子P的光散射式的粒子检测传感器10；检测气体的温度的温度传感器20；以及微控制器31，微控制器31，利用从粒子检测传感器10输出的传感器输出值和温度传感器20检测出的温度，计算气体中包含的粒子的质量浓度。

主权项：1.一种粒子检测系统，具备：光散射式的粒子检测传感器，检测气体中包含的粒子；温度传感器，检测所述气体的温度；以及控制器，所述控制器，将从所述粒子检测传感器输出的传感器输出值与依赖于所述温度传感器检测出的温度的换算系数相乘，由此计算所述气体中包含的粒子的质量浓度，其中，所述控制器，在将所述温度传感器检测出的温度设为t，将所述传感器输出值设为X，将所述质量浓度设为Y，将预先决定的常数设为A以及B时，根据由Y＝At+BX表示的算式，计算所述质量浓度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 松下知识产权经营株式会社 粒子检测系统以及粒子检测方法

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