申请/专利权人：大塚电子株式会社

申请日：2022-03-22

公开（公告）日：2022-09-27

公开（公告）号：CN115112026A

主分类号：G01B11/06

分类号：G01B11/06;G01B11/24;G01J3/02

优先权：["20210323 JP 2021-048379"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.02.23#实质审查的生效;2022.09.27#公开

摘要：本发明提供一种光学测定系统、光学测定方法以及记录介质。光学测定系统包括：光源；分光检测器；基准试样，其构成为相对于温度变化维持特性；切换机构，其将光学路径在第一光学路径与第二光学路径之间进行切换，所述第一光学路径用于向试样照射光并将在试样产生的光引导至分光检测器，所述第二光学路径用于向基准试样照射光并将在基准试样产生的光引导至分光检测器；以及计算部，其基于在第一时刻通过向基准试样照射光而输出的第一检测结果与在第二时刻通过向基准试样照射光而输出的第二检测结果的变化来执行校正处理，由此根据在与第二时刻在时间上接近的第三时刻通过向试样照射光而输出的第三检测结果来计算试样的测定值。

主权项：1.一种光学测定系统，具备：光源；分光检测器；基准试样，其构成为相对于温度变化维持特性；切换机构，其将光学路径在第一光学路径与第二光学路径之间进行切换，所述第一光学路径是用于向作为测定对象的试样照射来自所述光源的光并将在所述试样产生的光引导至所述分光检测器的光学路径，所述第二光学路径是用于向所述基准试样照射来自所述光源的光并将在所述基准试样产生的光引导至所述分光检测器的光学路径；以及计算部，其执行基于在第一时刻通过向所述基准试样照射来自所述光源的光而由所述分光检测器输出的第一检测结果与在第二时刻通过向所述基准试样照射来自所述光源的光而由所述分光检测器输出的第二检测结果的变化的校正处理，由此根据在与所述第二时刻在时间上接近的第三时刻通过向所述试样照射来自所述光源的光而由所述分光检测器输出的第三检测结果来计算所述试样的测定值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 大塚电子株式会社 光学测定系统、光学测定方法以及记录介质

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