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【发明授权】时钟测试方法、装置、量产测试方法及测试平台_宏晶微电子科技股份有限公司_202110267015.4 

申请/专利权人:宏晶微电子科技股份有限公司

申请日:2021-02-26

公开(公告)日:2022-11-25

公开(公告)号:CN113156799B

主分类号:G04D7/00

分类号:G04D7/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2022.11.25#授权;2021.08.10#实质审查的生效;2021.07.23#公开

摘要:本申请公开了一种时钟测试方法、装置、量产测试方法及测试平台。该时钟测试方法包括基于待测芯片产生的待测时钟获取时钟窗口,其中,时钟窗口的大小是预先设定的;利用标准时钟对时钟窗口进行计数,获得累积时钟计数;其中,标准时钟的频率大于待测时钟的频率;计算累积时钟计数与标准时钟计数的差值,获得累积时钟差值,比较累积时钟差值和预设的时钟阈值,并基于比较结果确定待测芯片的测试结果。该时钟测试方法可提高测试效率,减少误判,而且,可以大大降低成本。

主权项:1.一种时钟测试方法,包括:基于待测芯片产生的待测时钟获取时钟窗口,其中,所述时钟窗口的大小是预先设定的;利用标准时钟对预设时间段内的所述时钟窗口进行计数,获得累积时钟计数;其中,所述标准时钟的频率大于所述待测时钟的频率;利用所述时钟窗口的高电平或低电平对所述时钟窗口进行计数;计算所述累积时钟计数与标准时钟计数的差值,获得累积时钟差值;其中,所述标准时钟计数的时长为所述预设时间段;比较所述累积时钟差值和预设的时钟阈值,并基于比较结果确定所述待测芯片的测试结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 宏晶微电子科技股份有限公司 时钟测试方法、装置、量产测试方法及测试平台

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