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【发明公布】曝光用防护膜、防护膜组件、曝光原版、曝光装置及曝光用防护膜的制造方法_三井化学株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所_202180027875.9 

申请/专利权人:三井化学株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所

申请日:2021-04-02

公开(公告)日:2022-11-25

公开(公告)号:CN115398334A

主分类号:G03F1/62

分类号:G03F1/62;G03F7/20

优先权:["20200417 JP 2020-074343"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.09.26#授权;2022.12.13#实质审查的生效;2022.11.25#公开

摘要:一种曝光用防护膜,其包含碳纳米管膜,碳纳米管膜含有碳纳米管,碳纳米管膜在波长13.5nm时的EUV光的透射率为80%以上,碳纳米管膜的厚度为1nm以上50nm以下,将碳纳米管膜配置于硅基板上,对于配置后的碳纳米管膜,使用反射分光膜厚度计,以下述条件测定反射率时,反射率的3σ为15%以下。<条件>测定点的直径:20μm,基准测定波长:波长285nm,测定点数:121点,相邻的测定点的中心点间距离:40μm。

主权项:1.一种曝光用防护膜,其包含碳纳米管膜,所述碳纳米管膜含有碳纳米管,所述碳纳米管膜在波长13.5nm时的EUV光的透射率为80%以上,所述碳纳米管膜的厚度为1nm以上50nm以下,将所述碳纳米管膜配置于硅基板上,对于配置后的所述碳纳米管膜,使用反射分光膜厚度计,以下述条件测定反射率时,反射率的3σ为15%以下,<条件>测定点的直径:20μm,基准测定波长:波长285nm,测定点数:121点,相邻的测定点的中心点间距离:40μm。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 三井化学株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所 曝光用防护膜、防护膜组件、曝光原版、曝光装置及曝光用防护膜的制造方法

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