申请/专利权人：深圳市国芯物联科技有限公司

申请日：2022-08-31

公开（公告）日：2022-11-25

公开（公告）号：CN115396353A

主分类号：H04L43/50

分类号：H04L43/50;H04L43/0823

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.12.13#实质审查的生效;2022.11.25#公开

摘要：本发明提供一种高速串行芯片误码率测试系统及方法，包括：高速串行芯片装置用于基于预设的FPGA收发器发送与接收高速串行数据；误码率测试模块用于通过预设的时钟源，测试和读取高速串行数据的误码率；校准模块用于根据所述误码率生成对应的校准参数，并通过所述校准参数接收并校准高速串行芯片装置发送的高速串行数据；控制模块用于接收用户指令，并通过所述接收用户指令，控制高速串行芯片和误码率测试模块和驱动模块的通信。

主权项：1.一种高速串行芯片误码率测试系统，其特征在于，包括：高速串行芯片装置：用于基于预设的FPGA收发器发送和接收高速串行数据；误码率测试模块：用于通过预设的时钟源，测试和读取高速串行数据的误码率；校准模块：用于根据误码率生成对应的校准参数，并通过校准参数接收并校准高速串行芯片装置发送的高速串行数据；控制模块：用于接收用户指令，并通过接收用户指令控制高速串行芯片、误码率测试模块和校准模块进行交互通信。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市国芯物联科技有限公司 一种高速串行芯片误码率测试系统及方法

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