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【发明公布】连接器测试系统、测试卡及测试夹具_超聚变数字技术有限公司_202211054415.8 

申请/专利权人:超聚变数字技术有限公司

申请日:2022-08-31

公开(公告)日:2022-11-29

公开(公告)号:CN115407154A

主分类号:G01R31/00

分类号:G01R31/00;G01R1/04

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2022.12.16#实质审查的生效;2022.11.29#公开

摘要:本申请公开了一种连接器测试系统、测试卡及测试夹具。其中,连接器测试系统包括测试夹具、被测对象及至少一张测试卡,被测对象包括处理器及至少一个第一连接器,测试夹具包括控制器及至少一个连接器,至少一张测试卡中通过至少一个连接器与被测对象连接,控制器与被测对象连接;控制器控制处理器通过连接器的测试信号引脚向测试卡发送测试信号;测试卡,用于根据测试逻辑及测试信号从测试卡的输出引脚输出测试电平序列;控制器,还用于获取从第一连接器A’的输出引脚输出的电平序列,根据从第一连接器A’的输出引脚获取的电平序列确定第一连接器A’的输出引脚的功能是否正常。采用本申请的方案,测试链路短,连接简单。

主权项:1.一种连接器测试系统,其特征在于,所述连接器测试系统包括测试夹具、被测对象及至少一张测试卡,被测对象包括处理器及至少一个第一连接器,所述测试夹具包括控制器及至少一个第二连接器,所述至少一张测试卡与所述至少一个第二连接器对应,所述至少一个第二连接器与所述至少一个第一连接器对应,所述至少一张测试卡中的每张测试卡通过与所述每张测试卡对应的第二连接器与该第二连接器对应的第一连接器连接,以使所述每张测试卡的输出引脚与对应的第一连接器的输出引脚连接,及所述每张测试卡的输入引脚与对应的第一连接器的输入引脚连接;所述至少一个第一连接器与所述处理器连接,所述控制器与所述处理器连接;所述控制器,用于控制所述处理器通过所述第一连接器A’的测试信号引脚向测试卡A发送测试信号;所述测试卡A为所述至少一张测试卡中的任一个;所述第一连接器A’为所述测试卡A对应的第一连接器;所述测试卡A,用于根据测试逻辑及所述测试信号从所述测试卡A的输出引脚输出测试电平序列;所述控制器,还用于获取从所述第一连接器A’的输出引脚输出的电平序列,根据所述第一连接器A’的输出引脚输出的电平序列确定所述第一连接器A’的输出引脚的功能是否正常。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 超聚变数字技术有限公司 连接器测试系统、测试卡及测试夹具

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