申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司

申请日：2022-09-01

公开（公告）日：2022-11-29

公开（公告）号：CN115408984A

主分类号：G06F30/398

分类号：G06F30/398

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.12.16#实质审查的生效;2022.11.29#公开

摘要：本公开涉及半导体和集成电路领域，提供一种电路布局结构的验证方法、装置、存储介质及设备。该电路布局结构的验证方法包括：获取布局数据以及布局数据对应的初始电路图数据，初始电路图数据包括多个相同的重复单元结构，重复单元结构包括多个器件；将初始电路图数据中的重复单元结构替换为目标器件，得到目标电路图数据；根据目标电路图数据和布局数据执行LVS验证。本公开提供的验证方法，可以直接将布局数据中的重复单元结构识别为目标器件而无需具体识别重复单元结构的内部器件，由此可以减少对于布局数据的识别时间，提高LVS验证效率。当布局数据包含大量重复单元结构时，通过本公开方法可以极大地提升对于布局数据LVS验证效率。

主权项：1.一种电路布局结构的验证方法，其特征在于，包括：获取布局数据以及所述布局数据对应的初始电路图数据，所述初始电路图数据包括多个相同的重复单元结构，所述重复单元结构包括多个器件；将所述初始电路图数据中的所述重复单元结构替换为目标器件，得到目标电路图数据；根据所述目标电路图数据和所述布局数据执行布局与电路图LVS验证。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长鑫存储技术有限公司 电路布局结构的验证方法、装置、存储介质及设备

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