申请/专利权人：东曹株式会社;国立大学法人千叶大学

申请日：2018-02-13

公开（公告）日：2022-11-29

公开（公告）号：CN110506201B

主分类号：G01N15/12

分类号：G01N15/12;B03B5/00

优先权：["20170210 JP 2017-023255","20170601 JP 2017-109508","20171226 JP 2017-250029"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.11.29#授权;2020.02.14#实质审查的生效;2019.11.26#公开

摘要：本发明的课题在于提供一种能够逐个且连续地检测广范围的粒子的粒子检测装置和粒子检测方法。通过如下的粒子检测装置来解决这个课题，该粒子检测装置包括根据粒子的粒径向垂直于流体流动的方向分离粒子的粒子分离流路和以分支形式连接于所述粒子分离流路的两个以上的粒子回收流路，该粒子检测装置的特征在于，所述粒子回收流路具备包括光阑和电检测器的粒子检测部。

主权项：1.一种粒子检测装置，包括根据粒子的粒径向垂直于流体流动的方向分离粒子的粒子分离流路和以分支形式连接于所述粒子分离流路的两个以上的粒子回收流路，所述粒子检测装置的特征在于，所述粒子回收流路具备包括光阑和电检测器的粒子检测部，存在于各粒子回收流路中的粒子检测部的光阑的截面积互不相同，由此能够检测的粒径范围互不相同。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 东曹株式会社;国立大学法人千叶大学 粒子检测装置和粒子检测方法

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