申请/专利权人：美光科技公司

申请日：2021-03-17

公开（公告）日：2022-12-02

公开（公告）号：CN115428085A

主分类号：G11C16/26

分类号：G11C16/26;G11C16/30;G11C16/10;G11C16/34

优先权：["20200318 US 16/822,561"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.12.20#实质审查的生效;2022.12.02#公开

摘要：针对存储器子系统的一组编程分布中的每一编程分布确立编程位的目标值。施加读取电压电平来确定所述一组编程分布中的一或多个编程分布中的编程位的测量值。比较编程位的所述目标值与编程位的所述测量值以确定比较结果且鉴于所述比较结果执行动作。

主权项：1.一种方法，其包括：由处理装置针对存储器子系统的一组编程分布中的每一编程分布确立编程位的目标值；施加读取电压电平来确定所述一组编程分布中的一或多个编程分布中的编程位的测量值；比较编程位的所述目标值与编程位的所述测量值以确定比较结果；及鉴于所述比较结果执行动作。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 美光科技公司 基于存储器子系统中的编程位计数调整读取电压电平

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