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【发明公布】多点校正方法、系统和采样方法_固德威技术股份有限公司_202211082661.4 

申请/专利权人:固德威技术股份有限公司

申请日:2022-09-06

公开(公告)日:2022-12-02

公开(公告)号:CN115421090A

主分类号:G01R35/00

分类号:G01R35/00;G01R19/00;G06F17/00

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2022.12.02#公开

摘要:本发明涉及一种多点校正方法、系统和采样方法。多点校正方法为:基于待采样的物理量的取值范围,选取多个校正点,并存储各个校正点对应的校正数据,校正数据包括采样点对应的设备理论采样物理量及其对应的实际物理量;当采样设备检测到对任意一个校正点的校正指令时,则更新存储校正点对应的校正数据。多点校正系统包括通信连接的MCU和存储设备。采样方法为:采用上述多点校正方法校正后的采样设备启动采样后,读取所存储的各个校正点对应的校正数据并计算得到采样校正函数,从而针对当前采样的设备理论采样物理量,利用采样校正函数计算得到当前采样对应的实际物理量。本发明具有灵活性好,依赖性弱的优点。

主权项:1.一种多点校正方法,应用于采样设备中,其特征在于:所述多点校正方法为:基于待采样的物理量的取值范围,选取多个校正点,并存储各个所述校正点对应的校正数据,所述校正数据包括所述采样点对应的设备理论采样物理量及其对应的实际物理量;当所述采样设备检测到对任意一个所述校正点的校正指令时,则更新存储所述校正点对应的校正数据。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 固德威技术股份有限公司 多点校正方法、系统和采样方法

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