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【发明公布】芯片失效类型测试系统_广东省大湾区集成电路与系统应用研究院;锐立平芯微电子(广州)有限责任公司_202211131152.6 

申请/专利权人:广东省大湾区集成电路与系统应用研究院;锐立平芯微电子(广州)有限责任公司

申请日:2022-09-16

公开(公告)日:2022-12-02

公开(公告)号:CN115421027A

主分类号:G01R31/28

分类号:G01R31/28;G01R29/08

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2022.12.20#实质审查的生效;2022.12.02#公开

摘要:本申请提供了一种芯片失效类型测试系统,包括:检测装置,用于输出检测信号至待测芯片;处理装置,与检测装置通信连接,且与待测芯片通信电连接,处理装置用于至少控制检测信号的测试频率和测试功率以对待测芯片进行测试,并根据待测芯片在测试过程中的输出信号确定到待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型。该系统将处理装置与检测装置连接,通过处理装置至少控制检测信号的测试频率和测试功率以对待测芯片进行测试,并根据待测芯片在测试过程中的输出信号确定到待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型,实现芯片测试的自动化控制,进而解决了现有技术中无法自动识别区分芯片失效类型的问题。

主权项:1.一种芯片失效类型测试系统,其特征在于,包括:检测装置,用于输出检测信号至待测芯片;处理装置,与所述检测装置通信连接,且与所述待测芯片电连接,所述处理装置用于至少控制所述检测信号的测试频率和测试功率以对所述待测芯片进行测试,并根据所述待测芯片在所述测试过程中的输出信号确定所述待测芯片是否失效以及在失效情况下,确定失效类型。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 广东省大湾区集成电路与系统应用研究院;锐立平芯微电子(广州)有限责任公司 芯片失效类型测试系统

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