申请/专利权人：杭州高裕电子科技有限公司

申请日：2022-08-12

公开（公告）日：2022-12-02

公开（公告）号：CN217954600U

主分类号：G01R31/00

分类号：G01R31/00;G01R1/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.12.02#授权

摘要：本新型公开了一种射频器件高温反偏老化试验装置，应用于射频器件测试领域，包括：主控中心、数控高压电路模块、测试电路模块、跳线模块、测试夹具以及测试监控模块；主控中心的输出端依次通过数控高压电路、测试电路模块、跳线模块与测试夹具连接，主控中心的输出端与测试电路模块连接，构成试验回路；测试夹具通过测试监控模块与主控中心的输入端连接，构成监控回路。本新型根据射频器件类型，将跳线模块另外的独立接线端与射频器件的引脚进行对应连接，形成与射频器件类型对应匹配的老化板，克服了不同类型射频器件老化试验需要拆卸老化板的问题；通过测试监控模块，实现了对试验过程中射频器件反偏漏电流、温度以及电压等因素变化的实时监控。

主权项：1.一种射频器件高温反偏老化试验装置，其特征在于，包括：主控中心、数控高压电路模块、测试电路模块、跳线模块、测试夹具以及测试监控模块；所述主控中心的输出端依次通过所述数控高压电路、所述测试电路模块、所述跳线模块与所述测试夹具连接，所述主控中心的输出端与所述测试电路模块连接，构成试验回路；所述测试夹具通过所述测试监控模块与所述主控中心的输入端连接，构成监控回路。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州高裕电子科技有限公司 一种射频器件高温反偏老化试验装置

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