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【实用新型】一种高温反偏老化测试系统_杭州高裕电子科技有限公司_202222124150.6 

申请/专利权人:杭州高裕电子科技有限公司

申请日:2022-08-12

公开(公告)日:2022-12-02

公开(公告)号:CN217954601U

主分类号:G01R31/00

分类号:G01R31/00;G01R1/02

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2022.12.02#授权

摘要:本实用新型公开了一种高温反偏老化测试系统,应用于设备测试技术领域,包括:控制中心、老化板、电源、检测模块、偏压加载模块、显示模块,其中,老化板包括:适配板、基板、供电端、检测端、输入端;适配板包括电阻、保险丝、连接装置,连接装置上设置多个连接口,每个连接口适配一种被测器件,使一个老化板能够适用于多种器件的测试;一个老化板上设置多个适配板,能够安装多个被测器件,提高了高温反向偏压试验的测试效率;当试验过程中漏电值过高时,电阻和保险丝保证老化板不会受到损坏,提高了高温反向偏压试验的安全性。

主权项:1.一种高温反偏老化测试系统,其特征在于,包括:控制中心1、老化板2、电源3、检测模块4、偏压加载模块5;所述控制中心1控制所述偏压加载模块5为所述老化板2提供反向偏压,所述检测模块4将所述老化板2的测试数据传输至所述控制中心1,所述电源3为所述老化板2、检测模块4、偏压加载模块5、控制中心1供电;所述老化板2上设置有多个适配板21,所述适配板21适配不同封装的被测器件。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 杭州高裕电子科技有限公司 一种高温反偏老化测试系统

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