申请/专利权人：北京红山微电子技术有限公司

申请日：2022-11-10

公开（公告）日：2022-12-09

公开（公告）号：CN115454881A

主分类号：G06F11/36

分类号：G06F11/36;G06F13/40;G06F13/42

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.03.03#授权;2022.12.27#实质审查的生效;2022.12.09#公开

摘要：本发明提供了一种RISC‑V架构的调试系统及调试方法，涉及系统芯片的技术领域，本发明提供的RISC‑V架构的调试系统及调试方法，在调试系统中包括依次连接的调试主机、硬件调试器和RISC‑V芯片组，调试主机与硬件调试器通过USB方式通信连接，硬件调试器与RISC‑V芯片组通过串行线调试协议通信连接，且，RISC‑V芯片组包含至少一个RISC‑V芯片；在调试过程中，可以支持RISC‑V芯片组中多芯片、多核或多线程的调试模式，以提高时效性，并且，由于应用了串行线调试协议，可以节约调试接口的硬件资源，同时因为串行线调试协议的奇偶校验可以提高芯片调试功能的数据传输的可靠性。

主权项：1.一种RISC-V架构的调试系统，其特征在于，所述调试系统包括：依次连接的调试主机、硬件调试器和RISC-V芯片组；其中，所述调试主机与所述硬件调试器通过USB方式通信连接，所述硬件调试器与所述RISC-V芯片组通过串行线调试协议通信连接，且，所述RISC-V芯片组包含至少一个RISC-V芯片；所述调试主机用于输入调试指令，将所述调试指令转换成第一USB信号，并将所述第一USB信号传输至所述硬件调试器；所述硬件调试器用于将所述第一USB信号转换成第一串行线调试信号，并将所述第一串行线调试信号传输至所述RISC-V芯片组，以及，接收来自于所述RISC-V芯片组的第二串行线调试信号，将所述第二串行线调试信号转换为第二USB信号，并将所述第二USB信号传输至所述调试主机，以对所述RISC-V芯片组的至少一个所述RISC-V芯片进行调试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京红山微电子技术有限公司 RISC-V架构的调试系统及调试方法

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