申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司

申请日：2021-07-05

公开（公告）日：2023-01-06

公开（公告）号：CN115575734A

主分类号：G01R31/00

分类号：G01R31/00;G01R31/52;G01R19/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.01.24#实质审查的生效;2023.01.06#公开

摘要：本发明实施例提供一种检测电路及检测方法，检测电路包括：静电防护装置、第一熔丝以及晶体管；其中，所述静电防护装置的第一端与所述第一熔丝的第一端连接，所述静电防护装置与所述第一熔丝的连接端作为第一测试端；所述第一熔丝的第二端与所述晶体管的栅极连接，所述第一熔丝与所述晶体管的连接端作为第二测试端；所述静电防护装置的第二端与所述晶体管的源极、漏极或基底中的至少一者连接，所述静电防护装置与所述晶体管的连接端作为第三测试端。本发明实施例有利于准确测量静电防护装置对晶体管的保护作用。

主权项：1.一种检测电路，其特征在于，包括：静电防护装置、第一熔丝以及晶体管；其中，所述静电防护装置的第一端与所述第一熔丝的第一端连接，所述静电防护装置与所述第一熔丝的连接端作为第一测试端；所述第一熔丝的第二端与所述晶体管的栅极连接，所述第一熔丝与所述晶体管的连接端作为第二测试端；所述静电防护装置的第二端与所述晶体管的源极、漏极或基底中的至少一者连接，所述静电防护装置与所述晶体管的连接端作为第三测试端。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长鑫存储技术有限公司 检测电路及检测方法

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