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【发明公布】缺陷筛选方法、产品分类方法、装置和计算机设备_中科慧远视觉技术(北京)有限公司;中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司_202211069630.5 

申请/专利权人:中科慧远视觉技术(北京)有限公司;中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司

申请日:2022-09-01

公开(公告)日:2023-01-06

公开(公告)号:CN115577135A

主分类号:G06F16/54

分类号:G06F16/54;G06T7/00;G06V10/764

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.01.24#实质审查的生效;2023.01.06#公开

摘要:本申请提供了一种缺陷筛选方法、产品分类方法、装置和计算机设备,该方法包括:获取多个待筛选缺陷;根据多个待筛选缺陷的特征量构建数据空间,并将数据空间划分为多个相互独立的子空间,多个待筛选缺陷为数据空间中的点集;对于多个待筛选缺陷中的目标待筛选缺陷,根据目标待筛选缺陷的目标关键特征,将目标待筛选缺陷划分至目标关键特征对应的目标子空间中;若目标待筛选缺陷的约束特征满足目标子空间所对应添加的约束条件,则确定目标待筛选缺陷为缺陷;若不满足目标子空间所对应添加的约束条件,则确定目标待筛选缺陷为非缺陷。本申请,能够准确地区分出待筛选缺陷是缺陷还是非缺陷,提高工业产品的质量检测效果。

主权项:1.一种缺陷筛选方法,其特征在于,包括:获取多个待筛选缺陷;根据多个所述待筛选缺陷的特征量构建数据空间,并将所述数据空间划分为多个相互独立的子空间,其中,多个所述待筛选缺陷为所述数据空间中的点集;对于所述多个待筛选缺陷中的目标待筛选缺陷,根据所述目标待筛选缺陷的目标关键特征,将所述目标待筛选缺陷划分至所述目标关键特征对应的目标子空间中;若所述目标待筛选缺陷的约束特征满足所述目标子空间所对应添加的约束条件,则确定所述目标待筛选缺陷为缺陷;若所述目标待筛选缺陷的约束特征不满足所述目标子空间所对应添加的约束条件,则确定所述目标待筛选缺陷为非缺陷。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中科慧远视觉技术(北京)有限公司;中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司 缺陷筛选方法、产品分类方法、装置和计算机设备

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