申请/专利权人：中山市木林森电子有限公司

申请日：2022-09-05

公开（公告）日：2023-01-06

公开（公告）号：CN115575874A

主分类号：G01R35/00

分类号：G01R35/00;G01M11/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.01.24#实质审查的生效;2023.01.06#公开

摘要：本发明属于SMD分光机的技术领域，尤其涉及一种分光机自动验机的方法，分光机上的转盘自动将校验治具输送至探针测试范围，通过探针测试校验治具上的灯珠，以获取并保存灯珠的首测光电参数，同时转盘将各吸嘴上的灯珠依次输送至探针测试范围进行测试直至探针实际连续测试灯珠的数量达到设置数量n，自动驱动转盘转动至校验治具处于探针测试范围，控制探针再次测试校验治具上的灯珠，以获取灯珠的校验光电参数，并判断校验光电参数是否位于首测光电参数的误差范围内，实现自动监控机台的测试稳定性，由人工监控转而由机台自行监控，自动化程度高，有效解决了传统作业方式造成的操作人员手动操作造成的测试误差以及停机造成的机台稼动率的减少等。

主权项：1.一种分光机自动验机的方法，所述分光机包括转盘1、沿转盘1圆周方向间隔设于转盘1上的吸嘴2、以及用于测试位于吸嘴2上灯珠的光电参数的探针，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤S1：在转盘1上安装校验治具3，将需要测试的灯珠固定在校验治具3上；步骤S2：获取并保存固定在校验治具3上的灯珠的首测光电参数，并设置对应型号的灯珠的光电参数误差范围；步骤S3：启动转盘1，转盘1将各吸嘴2上的灯珠依次输送至探针测试范围进行测试，并将测试完灯珠从吸嘴2上取走进入下一工位；步骤S4：设置探针连续测试n个灯珠后，自动驱动转盘1转动至校验治具3处于探针测试范围，以启动自动验机；步骤S5：比对探针实际连续测试灯珠的数量k与n的大小；步骤S6：当探针实际连续测试灯珠的数量k﹤n，返回步骤S3；步骤S7：当探针实际连续测试灯珠的数量k＝n，控制探针再次测试校验治具3上的灯珠，以获取灯珠的校验光电参数，并判断校验光电参数是否位于首测光电参数的误差范围内；步骤S8：判断结果为是，返回步骤S3，以继续对吸嘴2上灯珠进行测试；步骤S9：判断结果为否，则停机并报警提示。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中山市木林森电子有限公司 一种分光机自动验机的方法

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