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【发明公布】一种多PIN脚IGBT测试机构_苏州凌创电子系统有限公司_202211141924.4 

申请/专利权人:苏州凌创电子系统有限公司

申请日:2022-09-20

公开(公告)日:2023-01-06

公开(公告)号:CN115575675A

主分类号:G01R1/04

分类号:G01R1/04;G01R1/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.01.24#实质审查的生效;2023.01.06#公开

摘要:本申请涉及一种多PIN脚IGBT测试机构,其包括工作台,工作台顶部设有输送装有IGBT的夹具的传送装置,在工作台顶部位于传送装置的一侧设有2个工位,2个工位上的结构相同,以其中一个工位为例:工作台顶部位于传送装置的一侧通过支脚架设有用于与夹具对接的卡接测试组件以及用于拉动夹具的搬运组件,卡接测试组件与传送装置之间还通过支脚架设有滑动过渡件,滑动过渡件用于对移动时的夹具进行支撑和导向。位于传送装置上的装有IGBT的夹具被输送到待对接的位置后,搬运组件会启动将装有IGBT的夹具拉动,使得装有IGBT的夹具经过滑动过渡件与卡接测试组件以完成测试。本申请具有双工位交替进行,测试准确以及测试效率高的特点。

主权项:1.一种多PIN脚IGBT测试机构,包括工作台1,其特征在于:还包括设在所述工作台1上、用于传输装有IGBT的夹具2的传送装置,所述工作台1上位于所述传送装置的一侧设有用于与装有IGBT的夹具2对接的卡接测试组件3,所述工作台1上还设有用于拉动所述传送装置上的装有IGBT的夹具2与所述卡接测试组件3对接的搬运组件4。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州凌创电子系统有限公司 一种多PIN脚IGBT测试机构

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