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【发明公布】一种测量天线损耗的方法_中国电子科技集团公司第五十四研究所_202211245166.0 

申请/专利权人:中国电子科技集团公司第五十四研究所

申请日:2022-10-12

公开(公告)日:2023-01-06

公开(公告)号:CN115575724A

主分类号:G01R29/08

分类号:G01R29/08;G01R27/26

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.01.24#实质审查的生效;2023.01.06#公开

摘要:本发明公开了一种测量天线损耗的方法,属于天线技术领域。本发明首先在微波暗室环境条件下,利用远场法测量天线系统的归一化载噪比;然后用远场法测量天线E面和H面的功率方向图,利用数值积分的方法计算天线的方向性系数;最后由测量的天线系统归一化载噪比和天线方向性系数,计算天线的损耗。本发明的方法简单可行,具有推广和应用价值。

主权项:1.一种测量天线损耗的方法,其特征在于,包括以下步骤:1系统归一化载噪比的测量:在微波暗室远场条件下,将标准增益喇叭与待测天线对准,并进行极化匹配,用频谱分析仪测量待测天线接收的载波功率大小,用C表示,单位为dBm;然后关闭信号源的射频输出,将待测天线方位转动90°,指向微波暗室侧墙的吸波材料,接收微波暗室的环境噪声,用频谱分析仪测量系统的归一化噪声功率,用N0表示,单位为dBmHz;计算分贝表示的系统归一化载噪比: 式中: ―系统归一化载噪比,dBHz;C―待测天线接收的统载波功率,dBm;N0―系统归一化噪声功率,dBmHz;2待测天线的方向性系数测量:在微波暗室远场条件下,在±180°角度范围内,分别测量待测天线的E面功率方向图PEθ和H面功率方向图PHθ;利用下式计算天线的方向性系数: 式中:DE―天线E面方向性系数;DH―天线H面方向性系数;D―天线方向性系数,dBi;3计算天线损耗:由测量的系统归一化载噪比和天线方向性系数,利用下式计算天线损耗: 式中:Lant—天线损耗,dB;GS—标准增益喇叭的增益,dBi;PT—标准增益喇叭的输入功率,dBW;Lp—标准增益喇叭和待测天线之间的自由空间传播损耗,dB;T0—微波暗室的环境噪声温度,K;TLNA—低噪声放大器的噪声温度,K;完成天线损耗的测量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种测量天线损耗的方法

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