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【发明公布】温度传感器的测试电路、集成测试电路和测试系统_中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))_202211411923.7 

申请/专利权人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

申请日:2022-11-11

公开(公告)日:2023-01-06

公开(公告)号:CN115574981A

主分类号:G01K15/00

分类号:G01K15/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.01.24#实质审查的生效;2023.01.06#公开

摘要:本发明涉及一种温度传感器的测试电路、集成测试电路和测试系统。所述测试电路包括:电源模块,与所述温度传感器连接,用于向所述温度传感器提供第一供电电压;处理模块,分别与所述电源模块、所述温度传感器连接,用于在所述电源模块提供的第二供电电压的作用下,控制所述电源模块向所述温度传感器提供所述第一供电电压,以及采集所述温度传感器在所述第一供电电压的作用下,处于工作状态的工作参数,所述工作参数至少包括供电工作电压。该测试电路可以获取温度传感器在工作状态下的电参数。

主权项:1.一种温度传感器的测试电路,其特征在于,所述测试电路包括:电源模块,与所述温度传感器连接,用于向所述温度传感器提供第一供电电压;处理模块,分别与所述电源模块、所述温度传感器连接,用于在所述电源模块提供的第二供电电压的作用下,控制所述电源模块向所述温度传感器提供所述第一供电电压,以及采集所述温度传感器在所述第一供电电压的作用下,处于工作状态的工作参数,所述工作参数至少包括供电工作电压。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 温度传感器的测试电路、集成测试电路和测试系统

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