申请/专利权人:北京唯捷创芯精测科技有限责任公司
申请日:2022-09-07
公开(公告)日:2023-01-06
公开(公告)号:CN218240312U
主分类号:G01R31/28
分类号:G01R31/28;G01R1/04
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2023.01.06#授权
摘要:本实用新型公开了一种基于自动测试机台的芯片测试系统,包括:自动测试机台、多个不同芯片类型的测试转接板和测试夹具;自动测试机台上集成有用于测试不同类型芯片的多个测试信号资源端口;测试转接板上设有多个测试信号接口以及芯片测试位,测试信号接口与对应的测试信号资源端口之间通过对应的信号连接线连接,芯片测试位包括多个芯片测试触点;测试夹具与对应的测试转接板可拆卸连接,待测试芯片设置于测试夹具上,待测试芯片的引脚通过测试夹具与芯片测试触点连接。实现提高芯片测试效率。
主权项:1.一种基于自动测试机台的芯片测试系统,其特征在于,包括:自动测试机台、多个不同芯片类型的测试转接板和测试夹具;所述自动测试机台上集成有用于测试不同类型芯片的多个测试信号资源端口;所述测试转接板上设有多个测试信号接口以及芯片测试位,所述测试信号接口与对应的测试信号资源端口之间通过对应的信号连接线连接,所述芯片测试位包括多个芯片测试触点;所述测试夹具与对应的测试转接板可拆卸连接,待测试芯片设置于所述测试夹具上,待测试芯片的引脚通过所述测试夹具与所述芯片测试触点连接。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 北京唯捷创芯精测科技有限责任公司 基于自动测试机台的芯片测试系统
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