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【发明公布】双波长面型测量仪及测量方法_江南大学_202211267558.7 

申请/专利权人:江南大学

申请日:2022-10-17

公开(公告)日:2023-01-13

公开(公告)号:CN115597522A

主分类号:G01B11/24

分类号:G01B11/24

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.02.07#实质审查的生效;2023.01.13#公开

摘要:本发明公开了一种双波长面型测量仪及测量方法,属于干涉测量技术领域。该测量仪包括第一激光光源和第二激光光源,在所述第一激光光源出射光线的传播路径上依次设有第一分光棱镜、第一衰减器、第一反射镜、第一空间滤波器、第一扩束准直器、第二反射镜、第三反射镜、第四反射镜和第二分光棱镜,作为参考光路;在所述第二激光光源出射光线的传播路径上依次设有第一分光棱镜、第二衰减器、第二空间滤波器、第二扩束准直器和第二分光棱镜,作为物光路。本发明测量精度高,测量速度快,是一种非接触式测量方法,对测量物体不会有任何损害;由于是双波长产生的合成波长,当两个波长相差较小时可以增大被测物体的可测尺寸,具有测量范围更广的优势。

主权项:1.一种双波长面型测量仪,其特征在于,包括第一激光光源和第二激光光源,在所述第一激光光源出射光线的传播路径上依次设有第一分光棱镜、第一衰减器、第一反射镜、第一空间滤波器、第一扩束准直器、第二反射镜、第三反射镜、第四反射镜和第二分光棱镜,作为参考光路;在所述第二激光光源出射光线的传播路径上依次设有第一分光棱镜、第二衰减器、第二空间滤波器、第二扩束准直器和第二分光棱镜,作为物光路。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 江南大学 双波长面型测量仪及测量方法

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