申请/专利权人：深圳市中图仪器股份有限公司

申请日：2021-09-15

公开（公告）日：2023-01-13

公开（公告）号：CN115597489A

主分类号：G01B11/00

分类号：G01B11/00;G01C15/00

优先权：["20201225 CN 2020115666491"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.08.18#授权;2023.02.07#实质审查的生效;2023.01.13#公开

摘要：本发明提供了一种测距系统，包括：利用第一光束以获得测距主机与辅助测量装置的距离的绝对测距模块，绝对测距模块包括用于产生第一光束的第一发射单元、对第一光束进行调制的调制单元、用于反射第一光束并形成第一反射光束的第一反射单元、对第一光束和第一反射光束进行分束的第一分光单元、具有光学开关并用于控制第一光束的路径的开关单元、以及设置于开关单元与第一反射单元之间的第一波片，当光学开关位于第一位置，第一反射光束经由开关单元到达第一分光单元，当光学开关位于第二位置，第一光束经由开关单元到达辅助测量装置并形成第二反射光束；基于第一反射光束和第二反射光束获得测距主机与辅助测量装置的距离。

主权项：1.一种测距系统，是包括测距主机和辅助测量装置的测距系统，其特征在于，所述测距主机包括：利用第一光束以获得所述测距主机与所述辅助测量装置的距离的绝对测距模块，所述绝对测距模块包括用于产生所述第一光束的第一发射单元、对所述第一光束进行调制的调制单元、用于反射所述第一光束并形成第一反射光束的第一反射单元、用于接收所述第一光束和所述第一反射光束并对所述第一光束和所述第一反射光束进行分束的第一分光单元、具有光学开关并用于控制所述第一光束的路径的开关单元、以及设置于所述开关单元与所述第一反射单元之间的第一波片，当所述光学开关位于第一位置，所述第一光束经由所述开关单元到达所述第一反射单元，所述第一反射光束经由所述开关单元到达所述第一分光单元，当所述光学开关位于第二位置，所述第一光束经由所述开关单元到达所述辅助测量装置并形成第二反射光束，所述第二反射光束经由所述开关单元到达所述第一分光单元；基于所述第一反射光束和所述第二反射光束获得所述测距主机与所述辅助测量装置的距离。

全文数据：

权利要求：

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