申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请日：2022-11-01

公开（公告）日：2023-01-24

公开（公告）号：CN115638728A

主分类号：G01B11/00

分类号：G01B11/00;G01B11/27

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.02.14#实质审查的生效;2023.01.24#公开

摘要：本发明提供一种内螺纹孔装调基准测量装置及其测量方法，其中的测量装置包括基准板和基准柱，基准板与基准柱固定连接，在基准板上开设有至少两个基准孔和一个安装孔，安装孔不在任意两个基准孔之间的连线上，基准柱贯穿安装孔与基准板固定连接，在基准柱的两端分别开设有定位孔，在基准柱未贯穿安装孔的一端开设有用于与待测内螺纹孔配合的外螺纹。通过本发明可以精确、快速、便捷地确定内螺纹孔中心轴的朝向矢量，以及中径圆心点的坐标，从而完全确定内螺纹孔的空间位姿，大幅度提高含内螺纹孔组件的装调精度和效率。

主权项：1.一种内螺纹孔装调基准测量装置，其特征在于，包括基准板1和基准柱2，所述基准板1与基准柱2固定连接，在所述基准板1上开设有至少两个基准孔3和一个安装孔，所述安装孔不在所述任意两个基准孔3之间的连线上，所述基准柱2贯穿所述安装孔与所述基准板1固定连接，在所述基准柱2的两端分别开设有定位孔2-2，在所述基准柱2未贯穿所述安装孔的一端开设有用于与待测内螺纹孔配合的外螺纹2-1。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 内螺纹孔装调基准测量装置及其测量方法

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