申请/专利权人:深圳市亿万克数据设备科技有限公司
申请日:2022-11-10
公开(公告)日:2023-01-24
公开(公告)号:CN115640186A
主分类号:G06F11/273
分类号:G06F11/273;G06F11/22
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2023.02.14#实质审查的生效;2023.01.24#公开
摘要:本申请涉及硬盘背板测试技术,提供了NVMe硬盘背板的测试系统及其测试方法,测试系统包括待测背板和与其连接的检测板及假硬盘检测模块;假硬盘检测模块,用于对待测背板的非高速信号管脚的连接性及硬盘状态LED灯的亮灭正常性进行检测得到第一检测结果;检测板用于读取第一检测结果,并读取待测背板的I2C设备地址,基于第一检测结果及I2C设备地址的校验结果确定待测背板的第二检测结果,向待测背板发送高速信号进行硬件链路的正常性检测,基于硬件链路的正常性检测结果得到第三检测结果,基于第一检测结果、第二检测结果及第三检测结果中每一个检测结果的校验通过判断结果,确定待测背板的最终测试结果。本申请实现了脱离主板的快速硬盘背板测试。
主权项:1.一种NVMe硬盘背板的测试系统,其特征在于,包括待测背板及与所述待测背板连接的检测板,还包括与所述待测背板连接的假硬盘检测模块;其中,所述检测板通过分别通过电源线、高速信号线及MISC信号线与所述待测背板连接,所述待测背板通过设备端连接接口与所述假硬盘检测模块连接;所述MISC信号线表示杂线信号线;所述假硬盘检测模块,用于对所述待测背板的非高速信号管脚的连接性及硬盘状态LED灯的亮灭正常性进行检测,得到第一检测结果;所述检测板,用于读取所述第一检测结果,并读取所述待测背板的I2C设备地址,基于所述第一检测结果及所述I2C设备地址的校验结果确定所述待测背板的第二检测结果;并用于向所述待测背板发送高速信号进行硬件链路的正常性检测,基于所述硬件链路的正常性检测结果得到第三检测结果;还用于基于所述第一检测结果、所述第二检测结果及所述第三检测结果中每一个检测结果的校验通过判断结果,确定所述待测背板的最终测试结果。
全文数据:
权利要求:
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