申请/专利权人:浙江杭可仪器有限公司
申请日:2022-12-23
公开(公告)日:2023-01-24
公开(公告)号:CN115639446A
主分类号:G01R31/12
分类号:G01R31/12;G01R1/02
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2023.06.02#授权;2023.02.14#实质审查的生效;2023.01.24#公开
摘要:本发明公开了一种选择性电容测试装置,包括相互连接的老化箱、信号箱和控制组件,控制组件包括主控机,老化箱包括老化架和设置在老化架上的多个老化板,信号箱包括背板和设置在背板上的选择机构,背板上还设置有第一插槽,第一插槽内设置有第一绝缘板,选择机构与主控机电性连接;第一绝缘板包括连接座和依次覆盖的底层板、中心层板及顶层板,顶层板上设置有多个第一穿孔,中心层板上设置有第二穿孔,底层板上设置有第一开孔,连接座固定在第一开孔内,连接座包括多个第一信号针,第一信号针的一端与老化板信号连接,第一信号针的另一端依次穿过第二穿孔和第一穿孔,选择机构选择性地与第一穿孔电性连接。其可以防止信号针放电烧坏装置。
主权项:1.一种选择性电容测试装置,包括相互连接的老化箱、信号箱和控制组件,所述控制组件包括主控机,所述老化箱包括老化架和设置在所述老化架上的多个老化板,其特征在于:所述信号箱包括背板和设置在所述背板上的选择机构,所述背板上还设置有第一插槽,所述第一插槽上设置有第一绝缘板,所述选择机构与所述主控机电性连接;所述第一绝缘板包括连接座和依次覆盖的底层板、中心层板及顶层板,所述顶层板上设置有多个第一穿孔,所述中心层板上设置有与所述第一穿孔相对应的第二穿孔,所述底层板上设置有第一开孔,所述连接座固定在所述第一开孔内,所述连接座包括多个第一信号针,所述第一信号针的一端与所述老化板信号连接,所述第一信号针的另一端依次穿过所述第二穿孔和所述第一穿孔,所述选择机构选择性地与第一信号针穿过所述第一穿孔的一端电性连接。
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权利要求:
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