申请/专利权人：北京纳米维景科技有限公司

申请日：2018-12-11

公开（公告）日：2023-01-24

公开（公告）号：CN109754446B

主分类号：G06T11/00

分类号：G06T11/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.01.24#授权;2019.06.07#实质审查的生效;2019.05.14#公开

摘要：本发明公开了一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法及系统。其中，该方法包括如下步骤：将细金属丝竖直固定在靠近旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集；将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图；将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线；将一个探测器模块对应的多项式曲线的横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数。该方法通过正弦图可以快速准确的计算出拼接式探测器的拼接缝占有的像素个数，简单易行。

主权项：1.一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，其特征在于包括如下步骤：将细金属丝竖直固定在靠近旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集；将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图，其中所述细金属丝投影的正弦图经过所有拼接缝位置；将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线；将一个探测器模块对应的多项式曲线的横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数。

全文数据：一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法及系统技术领域本发明涉及一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，同时涉及实现该方法的系统。背景技术随着辐射成像技术要求的不断提高，为了识别更高的分辨率，采用像素尺寸不断降低。但这一技术的提出也提高了对制造和安装工艺的要求。目前受探测器和芯片工艺水平及成本的限制，还无法采用单个探测器模块实现大面积的成像探测器。现阶段的光子计数探测器主要通过模块拼接的方式来构成大面积的探测器阵列，以满足大尺寸物体的成像需求。探测器模块之间通常难以实现无缝拼接，拼接缝的存在会引起CT重建精度的下降和伪影的产生。拼接缝宽度的大小直接决定了伪影的显著程度。为了消除伪影、提高图像质量，需要知道拼接缝的宽度，为了解决探测器拼接的问题导致的拼接缝，在申请号为201610877273.3的中国专利申请中公开了一种拼接探测器几何校正体模及校正方法，包括如下步骤：S1，将几何校正体模安装在拼接探测器顶面上，使几何校正体模基板上的金属圆点均匀分布在光子计数芯片上；S2，以光子计数芯片为单位，将光子计数探测器顶面划分为多个模组，根据金属圆点的位置计算出每个模组中所有金属圆点的中心坐标；S3，计算每个模组图像的像素，根据每个模组图像的像素判断相邻模组之间是否存在接缝，如果存在接缝，则转向步骤S4；否则相邻模组之间不存在接缝，图像不需要校正；S4，计算相邻模组之间存在的接缝的像素数，并将接缝处像素还原到图像上。该方法可以有效地对拼接探测器探测的实际成像进行校正，保证图像的准确性。但是此方法需要两个体模，需要制作相应的体模并进行安装，再进行相关的计算，造价和操作复杂度都比较高。发明内容针对现有技术的不足，本发明所要解决的首要技术问题在于提供一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法。本发明所要解决的另一技术问题提供一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计系统。为实现上述发明目的，本发明采用下述的技术方案：根据本发明实施例的第一方面，提供一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，包括如下步骤：将细金属丝竖直固定在靠近旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集；将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图；将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线；将一个探测器模块对应的多项式曲线的横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数。其中较优地，所述细金属丝投影的正弦图经过所有拼接缝位置。其中较优地，转动旋转台对被测物体进行投影图采集时，所述转动旋转台对被测物体进行360度范围的照射，每隔一定度数拍摄一张照片，均匀采集360度范围的全部投影图。其中较优地，对采集到的每个角度的投影图，抽取第一个投影图像素的第j行，作为正弦图的第一行，其中，j为正整数；抽取第二个投影图像素的第j行作为正弦图的第二行；依次类推，抽取每个投影图像像素的第j行，按照投影时间的先后顺序重组成一个图像，得到与获取的投影图像像素第j行对应的正弦图。其中较优地，将正弦图进行分割之前还包括如下步骤：通过阈值分割算法将正弦图中的细金属丝部分进行分割，获得二值图像。其中较优地，将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线，包括如下步骤：将正弦图以探测器模块为单位分割；选取每个探测器模块对应的正弦图部分，对细金属丝图像用最小二乘法拟合出每个探测器模块对应的多项式曲线。其中较优地，所述将探测器模块对应的多项式曲线横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数；进一步包括如下步骤：获取第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标xi；其中i＝1,2……M-1，M为探测器模块的个数；将第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N，计算该第i个探测器模块的曲线函数值yiN；计算第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N之后对应的曲线函数值yiN；计算第i+1个探测器模块拟合的多项式曲线开端的横坐标对应的曲线函数值yi+1；当第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N之后对应的曲线函数值等于第i+1个探测器模块拟合的多项式曲线开端的横坐标对应的曲线函数值时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数T＝N-1。根据本发明实施例的第二方面，提供一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计系统，包括处理器和存储器；所述存储器上存储有可用在所述处理器上运行的计算机程序，当所述计算机程序被所述处理器执行时实现如下步骤：将细金属丝竖直固定在靠近旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集；将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图；将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线；将一个探测器模块对应的多项式曲线的横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数。其中较优地，所述细金属丝投影的正弦图经过所有拼接缝位置。其中较优地，将正弦图进行分割之前所述计算机程序被所述处理器执行时还实现如下步骤：通过阈值分割算法将正弦图中的细金属丝部分进行分割，获得二值图像。本发明所提供的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，将一根细金属丝竖直固定在靠近电控旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集；将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图；将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块的多项式曲线；将探测器模块对应的多项式曲线平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数。该方法通过正弦图可以快速准确的计算出拼接式探测器的拼接缝占有的像素个数，简单易行。附图说明图1为本发明所提供的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法的流程图；图2为本发明所提供的一个实施例中，细金属丝在位置1的去掉拼接缝后形成的正弦图示意图；图3为本发明所提供的一个实施例中，细金属丝在位置1的正弦图局部放大图；图4为本发明所提供的一个实施例中，细金属丝在位置2的去掉拼接缝后形成的正弦图；图5为本发明所提供的一个实施例中，细金属丝在位置2的正弦图局部放大图；图6为本发明所提供的一个实施例中，细金属丝在位置1对应的每个模块连续的正弦图对应的拟合曲线示意图；图7为本发明所提供的一个实施例中，细金属丝在位置2对应的每个模块连续的正弦图对应的拟合曲线示意图；图8为本发明所提供的另一个实施例中，细金属丝在位置1的去掉拼接缝后形成的正弦图示意图；图9为本发明所提供的另一个实施例中，细金属丝在位置1的正弦图局部放大图；图10为本发明所提供的另一个实施例中，细金属丝在位置2的去掉拼接缝后形成的正弦图；图11为本发明所提供的另一个实施例中，细金属丝在位置2的正弦图局部放大图；图12为本发明所提供的另一个实施例中，细金属丝在位置1对应的每个模块连续的正弦图对应的拟合曲线示意图；图13为本发明所提供的另一个实施例中，细金属丝在位置2对应的每个模块连续的正弦图对应的拟合曲线示意图；图14为本发明所提供的探测器模块之间的拼接缝宽度估计系统的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本发明的技术内容进行详细具体的说明。本发明设计并实现了针对拼接式探测器的一种基于正弦图的拼接缝宽度估计方法。该估计方法可以有效的检测拼接式探测器的拼接缝占有的像素个数，为后续拼接缝数据校正与补偿达到减少CT伪影，提高成像精确度的效果。其中，该探测器模块包括但不限于用于辐射成像技术的X射线或伽玛射线探测器，在本发明所提供的实施例中，以光子计数探测器为例进行说明。该方法仅采用细金属丝，基于正弦图进行检测，是低成本、易于实现的一种检测拼接缝宽度的方法。如图1所示，本发明所提供的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，包括如下步骤：首先，将一根细金属丝竖直固定在靠近电控旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集；其次，将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图；然后，将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线；最后，将一个探测器模块对应的多项式曲线平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数。下面对这一过程进行详细具体的说明。S1，将一根细金属丝竖直固定在靠近电控旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集。将一根细金属丝竖直固定在靠近电控旋转台的边界，在本发明所提供的实施例中，所述靠近电控旋转台的边界为电控旋转台的边界附近，距离电控旋转台的边界一定距离，该一定距离可以是几毫米，根据实际使用时的需求进行设定。该细金属丝投影正弦图经过所有拼接缝位置。转动旋转台对被测物体进行投影图采集时，转动旋转台对被测物体进行360度范围的照射，每隔一定度数拍摄一张照片，均匀采集360度范围的全部投影图。在本发明所提供的实施例中，以一定度数为0.05度为例。每隔0.05度采集一张照片，采集7200张投影图。S2，将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图。将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图即对于锥束扫描采集的投影图，对采集到的每个角度的投影图选取某一相同行的投影数据进行行排列，可以得到投影图像的正弦图。然后，将正弦图像作为输入图像得到每个探测器模块的多项式曲线。其中，将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图，具体包括如下步骤：对采集到的每个角度的投影图，抽取第一个投影图像素的第j行，作为正弦图Aj的第一行；抽取第二个投影图像素的第j行作为正弦图Aj的第二行；依次类推，抽取每个投影图像像素的第j行，按照投影时间的先后顺序重组成一个图像，得到与获取的投影图像像素第j行对应的正弦图Aj，其中，j为正整数。S3，将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线。在本发明所提供的实施例中，将正弦图进行分割之前还包括如下步骤：通过阈值分割算法将正弦图中的细金属丝部分进行分割，获得二值图像。即通过设定分割阈值，将正弦图像转化为二值图像。之后，将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线，具体包括如下步骤：S31，将正弦图以探测器模块为单位分割；S32，选取每个探测器模块连续的正弦图部分，对细金属丝图像用最小二乘法拟合每个探测器模块对应的多项式曲线。以三次多项式为例，y＝ax3+bx2+cx+d。根据实际数据需求，也可以是其他次数的多项式。在本发明所提供的实施例中，不作具体限制。S4，将探测器模块对应的多项式曲线横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值即平移后多项式曲线的横坐标最后一个取值对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值即未平移的多项式曲线的横坐标第一个取值对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数；具体包括如下步骤：S41，获取第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标宽度位置xi；其中i＝1,2……M-1，M为探测器模块的个数。S42，将第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N，即将第i个探测器模块拟合的多项式曲线向右平移N个单位；计算该第i个探测器模块的曲线函数值yiN。S43，计算第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N之后对应的曲线函数值yiN。S44，计算第i+1个探测器模块拟合的多项式曲线开端的横坐标对应的曲线函数值yi+1。S45，当第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N之后对应的曲线函数值等于第i+1个探测器模块拟合的多项式曲线开端的横坐标对应的曲线函数值时，即yiN＝yi+1时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数T＝N-1。S46，当i小于M-1时；i＝i+1；转向步骤S41；否则，得到所有拼接缝占有的像素个数。下面以第一个探测器模块为例进行说明，计算拼接缝宽度占有的像素个数时，将第一个探测器模块拟合的曲线末尾的横坐标x1加上一个数据N,即：y1N＝a1x1+N3+b1x1+N2+c1x1+N+d1，与下一个相邻的探测器模块第二个探测器模块拟合曲线的第一个数值x2开端的横坐标对应的数值，即进行比较，当两个位置对应的值相等时，即y1N＝y2或y1N≈y2，N为所求值，N-1为拼接缝占有的像素个数。下面根据以上步骤用模拟数据进行验证，以具体的试验验证本发明所提供的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法的效果。模拟半径为0.3mm的细金属丝，旋转一周采集到7200张投影图；调整细金属丝的位置，两次扫描，得到2次正弦图，目的是考察算法的稳定性。将7200张投影图模拟拼接缝的大小依次设为：表1投影图模拟七个拼接缝的展示表两次调整不同位置放置的细金属丝去掉拼接缝后形成正弦图如图2～5所示。其中，图2和图3是细金属丝在位置1的正弦图以及细金属丝在位置1的正弦图局部放大图。图4和图5是细金属丝在位置2的正弦图以及细金属丝在位置2的正弦图局部放大图。每个探测器模块连续正弦图区域注：为了使得到的拟合曲线趋近于一条直线，将第一个探测器模块和最后一个探测器模块的正弦图只选取一半，即选取第一个探测器模块右边的正弦图，去掉左边的正弦图；选取最后一个探测器模块左边的正弦图，去掉右边的正弦图；进行拟合，得到的拟合曲线的显示图如图6和7所示。其中，图6是细金属丝在位置1对应的每个探测器模块连续的正弦图对应的拟合曲线。图7是细金属丝在位置2对应的每个探测器模块连续的正弦图对应的拟合曲线。根据步骤S4中的理论公式得到拼接缝所占有的像素个数，如下表2所示：表2理论拼接缝所占有的像素个数和实际像素个数的对比表除此之外，根据以上步骤对采集真实数据进行了验证，具体过程如下：将半径为0.3mm的细铜丝固定在旋转台上，使其旋转一周后充满整个视野，实验平台一周采集7186张投影图。同样调整金属铜丝的位置，进行两次扫描。将采集到投影图转换成正弦图像，图像如图8～11所示。其中，图8为真实数据细金属丝旋转一周调整到位置为1时的正弦图像，图9真实数据细金属丝在位置1的正弦图局部放大图。图10为真实数据细金属丝旋转一周调整到位置为2时的正弦图像，图11真实数据细金属丝在位置2的正弦图局部放大图。每个探测器模块连续正弦图区域，注：为了使得到的拟合曲线趋近于一条直线，将第一个探测器模块和最后一个探测器模块的正弦图只选取一般，即选取第一个探测器模块右边的正弦图，去掉左边的正弦图；选取最后一个探测器模块左边的正弦图，去掉右边的正弦图；，进行拟合，得到的拟合曲线的显示图如图12和13所示。图12真实数据细金属丝在位置1对应的每个探测器模块连续的正弦图对应的拟合曲线。图13真实数据细金属丝在位置2对应的每个探测器模块连续的正弦图对应的拟合曲线。根据步骤S4中的理论公式得到拼接缝所占有的像素个数，如下表3所示：表3采用真实数据理论拼接缝所占有的像素个数展示表综上，本发明提出的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法稳定性、准确性均得到了验证。除此之外，本发明所提供的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法具有如下有益效果：1简单易于实现；2造价成本低；3通过正弦图可以快速准确的计算出拼接式探测器的拼接缝占有的像素个数。本发明还提供了一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计系统。如图14所示，该系统包括处理器142以及存储有处理器142可执行指令的存储器141；其中，处理器142可以是通用处理器，例如中央处理器CPU，还可以是数字信号处理器DSP、专用集成电路ASIC，或者是被配置成实施本发明实施例的一个或多个集成电路。其中，存储器61，用于存储程序代码，并将该程序代码传输给CPU。存储器141可以包括易失性存储器，例如随机存取存储器RAM；存储器141也可以包括非易失性存储器，例如只读存储器、快闪存储器、硬盘或固态硬盘；存储器141还可以包括上述种类的存储器的组合。具体地，本发明实施例所提供的一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计系统，包括处理器142和存储器141；存储器141上存储有可用在处理器142上运行的计算机程序，当计算机程序被处理器142执行时实现如下步骤：将细金属丝竖直固定在靠近旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集；将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图；将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线；将一个探测器模块对应的多项式曲线的横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数。其中，当计算机程序被处理器142执行时实现如下步骤；细金属丝投影的正弦图经过所有拼接缝位置。其中，当计算机程序被处理器142执行时实现如下步骤；转动旋转台对被测物体进行投影图采集时，所述转动旋转台对被测物体进行360度范围的照射，每隔一定度数拍摄一张照片，均匀采集360度范围的全部投影图。其中，当将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图时，计算机程序被处理器142执行实现如下步骤；对采集到的每个角度的投影图，抽取第一个投影图像素的第j行，作为正弦图的第一行，其中，j为正整数；抽取第二个投影图像素的第j行作为正弦图的第二行；依次类推，抽取每个投影图像像素的第j行，按照投影时间的先后顺序重组成一个图像，得到与获取的投影图像像素第j行对应的正弦图。其中，将正弦图进行分割之前，计算机程序被处理器142执行时还实现如下步骤；通过阈值分割算法将正弦图中的细金属丝部分进行分割，获得二值图像。其中，当将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线时，计算机程序被处理器142执行实现如下步骤；将正弦图以探测器模块为单位分割；选取每个探测器模块对应的正弦图部分，对细金属丝图像用最小二乘法拟合出每个探测器模块对应的多项式曲线。其中，当将探测器模块对应的多项式曲线横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数时，计算机程序被处理器142执行实现如下步骤；其中较优地，所述将探测器模块对应的多项式曲线横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数；进一步包括如下步骤：获取第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标xi；其中i＝1,2……M-1，M为探测器模块的个数；将第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N，计算该第i个探测器模块的曲线函数值yiN；计算第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N之后对应的曲线函数值yiN；计算第i+1个探测器模块拟合的多项式曲线开端的横坐标对应的曲线函数值yi+1；当第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N之后对应的曲线函数值等于第i+1个探测器模块拟合的多项式曲线开端的横坐标对应的曲线函数值时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数T＝N-1。本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质。这里的计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序。其中，计算机可读存储介质可以包括易失性存储器，例如随机存取存储器；存储器也可以包括非易失性存储器，例如只读存储器、快闪存储器、硬盘或固态硬盘；存储器还可以包括上述种类的存储器的组合。当计算机可读存储介质中所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现上述的用于实现上述方法实施例中探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法的部分步骤或者全部步骤。上面对本发明所提供的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法及系统进行了详细的说明。对本领域的一般技术人员而言，在不背离本发明实质精神的前提下对它所做的任何显而易见的改动，都将构成对本发明专利权的侵犯，将承担相应的法律责任。

权利要求：1.一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，其特征在于包括如下步骤：将细金属丝竖直固定在靠近旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集；将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图；将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线；将一个探测器模块对应的多项式曲线的横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数。2.如权利要求1所述的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，其特征在于：所述细金属丝投影的正弦图经过所有拼接缝位置。3.如权利要求1所述的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，其特征在于：转动旋转台对被测物体进行投影图采集时，所述转动旋转台对被测物体进行360度范围的照射，每隔一定度数拍摄一张照片，均匀采集360度范围的全部投影图。4.如权利要求1所述的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，其特征在于将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图，包括如下步骤：对采集到的每个角度的投影图，抽取第一个投影图像素的第j行，作为正弦图的第一行，其中，j为正整数；抽取第二个投影图像素的第j行作为正弦图的第二行；依次类推，抽取每个投影图像像素的第j行，按照投影时间的先后顺序重组成一个图像，得到与获取的投影图像像素第j行对应的正弦图。5.如权利要求1所述的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，其特征在于将正弦图进行分割之前还包括如下步骤：通过阈值分割算法将正弦图中的细金属丝部分进行分割，获得二值图像。6.如权利要求1所述的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，其特征在于将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块的多项式曲线，包括如下步骤：将正弦图以探测器模块为单位分割；选取每个探测器模块对应的正弦图部分，对细金属丝图像用最小二乘法拟合出每个探测器模块对应的多项式曲线。7.如权利要求1所述的探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法，其特征在于所述将探测器模块对应的多项式曲线横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数；包括如下步骤：获取第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标xi；其中i＝1,2……M-1，M为探测器模块的个数；将第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N，计算该第i个探测器模块的曲线函数值yiN；计算第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N之后对应的曲线函数值yiN；计算第i+1个探测器模块拟合的多项式曲线开端的横坐标对应的曲线函数值yi+1；当第i个探测器模块拟合的多项式曲线末尾的横坐标加上一个数据N之后对应的曲线函数值等于第i+1个探测器模块拟合的多项式曲线开端的横坐标对应的曲线函数值时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数T＝N-1。8.一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计系统，其特征在于包括处理器和存储器；所述存储器上存储有可用在所述处理器上运行的计算机程序，当所述计算机程序被所述处理器执行时实现如下步骤：将细金属丝竖直固定在靠近旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集；将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图；将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线；将一个探测器模块对应的多项式曲线的横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数。9.如权利要求8所述的探测器模块之间的拼接缝宽度估计系统，其特征在于当所述计算机程序被所述处理器执行时实现如下步骤：所述细金属丝投影的正弦图经过所有拼接缝位置。10.如权利要求8所述的探测器模块之间的拼接缝宽度估计系统，其特征在于将正弦图进行分割之前所述计算机程序被所述处理器执行时还实现如下步骤：通过阈值分割算法将正弦图中的细金属丝部分进行分割，获得二值图像。

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