申请/专利权人:苏州锂影科技有限公司
申请日:2022-09-30
公开(公告)日:2023-01-24
公开(公告)号:CN218382481U
主分类号:G01N23/20008
分类号:G01N23/20008;G01N23/201;G01N23/207
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2023.01.24#授权
摘要:本实用新型公开基于长方形X射线光束的二维掠入射X射线散射测试装置,涉及X射线相关技术领域;包括安全防护壳体,所述安全防护壳体内依次设置有X射线源、长方形光阑、样品台和二维X射线探测器;所述X射线源、样品台和二维X射线探测器分别与控制系统连接;所述样品台上用于放置薄膜样品。本实用新型能够提供长方形光束的掠入射X射线散射测试,从而可以加大照射面积,提高光通量,进而提升测试效果与测试效率。
主权项:1.基于长方形X射线光束的二维掠入射X射线散射测试装置,其特征在于:包括安全防护壳体,所述安全防护壳体内依次设置有X射线源、长方形光阑、样品台和二维X射线探测器;所述X射线源、样品台和二维X射线探测器分别与控制系统连接;所述样品台上用于放置薄膜样品。
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权利要求:
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