申请/专利权人：深圳蓝普视讯科技有限公司

申请日：2023-01-29

公开（公告）日：2023-03-14

公开（公告）号：CN115791837A

主分类号：G01N21/95

分类号：G01N21/95;G01N21/01

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.06.09#授权;2023.04.18#实质审查的生效;2023.03.14#公开

摘要：本申请涉及一种Micro‑LED缺陷光线检测探头及缺陷检测方法，探头包括基体、设在基体上的线性模组、设在线性模组上的移动检测板，设在移动检测板上的激光发射源、设在移动检测板的工作面上并与激光发射源的输出端连接的激光分束器和设在移动检测板上的控制器，线性模组驱动移动检测板在水平面上移动，激光发射源按照MxN的矩阵形式排列，每一个激光分束器处均部署有一个CCD图像传感器，控制器与驱动装置、激光发射源和CCD图像传感器进行数据交互，用于根据CCD图像传感器的成像识别异常的Micro‑LED单元。本申请公开的Micro‑LED缺陷光线检测探头及缺陷检测方法，借助于非接触式的激发发光检测方式来对Micro‑LED晶粒进行过饱和检测，结合区域化的检测方式来得到更快的检测速度。

主权项：1.一种Micro-LED缺陷光线检测探头，其特征在于，包括：基体（11）；线性模组（12），设在基体（11）上；移动检测板（13），设在线性模组（12）上，线性模组（12）驱动移动检测板（13）在水平面上移动；激光发射源（21），设在移动检测板（13）上，激光发射源（21）按照MxN的矩阵形式排列，M和N均为大于零的自然数；激光分束器（22），设在移动检测板（13）的工作面上并与激光发射源（13）的输出端连接；CCD图像传感器（23），设在移动检测板（13）上，每一个激光分束器（22）处均部署有一个CCD图像传感器（23）；以及控制器（6），与驱动装置（14）、激光发射源（21）和CCD图像传感器（23）进行数据交互，用于根据CCD图像传感器（23）的成像识别异常的Micro-LED单元。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳蓝普视讯科技有限公司 一种Micro-LED缺陷光线检测探头及缺陷检测方法

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