申请/专利权人：福耀玻璃工业集团股份有限公司

申请日：2022-11-22

公开（公告）日：2023-03-14

公开（公告）号：CN115791794A

主分类号：G01N21/88

分类号：G01N21/88;G01M11/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.03.31#实质审查的生效;2023.03.14#公开

摘要：本发明提供了一种光学元件检测方法、系统和应用，该方法包括：采集受测光学元件的点云数据；根据点云数据进行拟合重构，得到自由曲面数据；对自由曲面数据进行仿真计算，得到虚像受测图案；根据虚像受测图案进行质量检测，得到受测光学元件的质量检测结果，通过对受测光学元件的自由曲面进行仿真计算得到虚像受测图案，通过虚像受测图案得到受测光学元件的质量检测结果，通过仿真技术替代实际用于检测的光学元件和摄像机，能够简化检测过程，降低甚至消除了多个部件累积的系统偏差，提高检测准确率和检测效率，实现低成本、高精度地检测光学元件。

主权项：1.一种光学元件检测方法，其特征在于，所述方法包括：采集受测光学元件的点云数据；根据所述点云数据进行拟合重构，得到自由曲面数据；对所述自由曲面数据进行仿真计算，得到虚像受测图案；根据所述虚像受测图案进行质量检测，得到所述受测光学元件的质量检测结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 福耀玻璃工业集团股份有限公司 光学元件检测方法、系统和应用

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