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【发明公布】覆盖率驱动的验证方法、验证装置、介质及电子设备_南京金阵微电子技术有限公司_202211493790.2 

申请/专利权人:南京金阵微电子技术有限公司

申请日:2022-11-25

公开(公告)日:2023-03-14

公开(公告)号:CN115796089A

主分类号:G06F30/33

分类号:G06F30/33;G06F11/22

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.03.31#实质审查的生效;2023.03.14#公开

摘要:本申请提供一种覆盖率驱动的验证方法、验证装置、介质及电子设备。所述覆盖率驱动的验证方法包括:根据第一随机激励获取所述第一随机激励对应的第一覆盖率,若所述第一覆盖率超过先前激励对应的覆盖率,则下发所述第一随机激励以使待测芯片在所述第一随机激励下进行验证,若所述第一覆盖率不超过所述先前激励对应的覆盖率,则获取第二随机激励并下发所述第二随机激励以使所述待测芯片在所述第二随机激励下进行验证;获取所述待测芯片的输出数据和所述待测芯片的参考模型的输出数据;对所述待测芯片的输出数据和所述参考模型的输出数据进行对比处理,以获取验证结果。本申请所述覆盖率驱动的验证方法能够降低整个验证过程的耗时。

主权项:1.一种覆盖率驱动的验证方法,其特征在于,应用于验证系统,所述覆盖率驱动的验证方法包括:根据第一随机激励获取所述第一随机激励对应的第一覆盖率,若所述第一覆盖率超过先前激励对应的覆盖率,则下发所述第一随机激励以使待测芯片在所述第一随机激励下进行验证,若所述第一覆盖率不超过所述先前激励对应的覆盖率,则获取第二随机激励并下发所述第二随机激励以使所述待测芯片在所述第二随机激励下进行验证,所述第二随机激励对应的第二覆盖率超过所述先前激励对应的覆盖率;获取所述待测芯片的输出数据和所述待测芯片的参考模型的输出数据;对所述待测芯片的输出数据和所述参考模型的输出数据进行对比处理,以获取验证结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南京金阵微电子技术有限公司 覆盖率驱动的验证方法、验证装置、介质及电子设备

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