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【发明公布】一种精跟踪成像同轴共轭的光学基准标定设备_航天科工微电子系统研究院有限公司_202211518561.1 

申请/专利权人:航天科工微电子系统研究院有限公司

申请日:2022-11-29

公开(公告)日:2023-03-14

公开(公告)号:CN115793226A

主分类号:G02B23/10

分类号:G02B23/10

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.03.31#实质审查的生效;2023.03.14#公开

摘要:本申请涉及激光定向能装备技术领域,尤其是涉及一种精跟踪成像同轴共轭的光学基准标定设备,包括转台、跟踪架、俯仰轴架和望远筒,跟踪架转动装配于转台上且转动轴线竖向布置,俯仰轴架安装于跟踪架上,望远筒转动装配于俯仰轴架上且转动轴线水平布置,转台内设置有导引光源和滤光片,望远筒上安装有相机组合,相机组合包括红外相机、光轴同步相机和可见光相机,相机组合和导引光源之间设置有光路镜组,光路镜组安装于跟踪架和望远筒的内部。本申请的一种精跟踪成像同轴共轭的光学基准标定设备,可以保证目标跟踪点与激光打击点为同一点,标定方法较为简单,无需借助外部设备,使精跟踪标定过程变简单,成本较低。

主权项:1.一种精跟踪成像同轴共轭的光学基准标定设备,其特征在于,包括转台1、跟踪架2、俯仰轴架3和望远筒4,所述跟踪架2转动装配于所述转台1上且转动轴线竖向布置,所述俯仰轴架3安装于所述跟踪架2上,所述望远筒4转动装配于所述俯仰轴架3上且转动轴线水平布置,所述转台1内设置有导引光源5和滤光片6,所述导引光源5与主激光调至同轴,所述滤光片6用于通过可见导引光或红外导引光,所述望远筒4上安装有相机组合,所述相机组合包括红外相机7、光轴同步相机8和可见光相机9,所述相机组合和所述导引光源5之间设置有光路镜组,所述光路镜组安装于所述跟踪架2和所述望远筒4的内部,所述导引光源5发出的引导光经过所述滤光片6后通过所述光路镜组反射或透射至所述相机组合中。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 航天科工微电子系统研究院有限公司 一种精跟踪成像同轴共轭的光学基准标定设备

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