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【发明公布】分子筛中铜、铝元素含量及铜铝比、硅铝比的测定方法_山东国瓷功能材料股份有限公司_202211548011.4 

申请/专利权人:山东国瓷功能材料股份有限公司

申请日:2022-12-05

公开(公告)日:2023-03-14

公开(公告)号:CN115791860A

主分类号:G01N23/223

分类号:G01N23/223;G01N23/2202

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.03.31#实质审查的生效;2023.03.14#公开

摘要:本发明提供了一种CHA型分子筛中铜、铝元素含量及铜铝比、硅铝比的测定方法。该方法包括以下步骤:配制分子筛标准样品;对分子筛标准样品进行制样,测定标准样品中铜、铝、铜铝比、硅铝比的特征谱线强度,建立铜元素、铝元素、铜铝比和硅铝比的强度和含量的工作曲线;对分子筛待测样品进行制样,采用波长色散X荧光光谱仪分析扫描,测定分子筛待测中铜、铝、铜铝比和硅铝比的特征谱线强度,并根据工作曲线计算得到分子筛待测样品中铜和铝元素的含量及铜铝比和硅铝比。本发明提供的方法采用波长色散X射线荧光光谱仪测定,操作简便、快速、准确度高、短期和长期重现性好,为及时准确指导实际生产中的工艺调整和提高产品长期质量稳定性提供可靠的技术支持。

主权项:1.分子筛中铜、铝元素含量及铜铝比、硅铝比的测定方法,其特征在于,包括以下步骤:配制分子筛标准样品;对分子筛标准样品进行制样,测定标准样品中铜、铝、铜铝比和硅铝比的特征谱线强度,建立铜元素、铝元素、铜铝比和硅铝比的强度和含量的工作曲线;对分子筛待测样品进行制样,采用波长色散X荧光光谱仪分析扫描,测定分子筛待测中铜、铝、硅的特征谱线强度,并根据工作曲线计算得到分子筛待测样品中铜和铝元素的含量及铜铝比和硅铝比。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 山东国瓷功能材料股份有限公司 分子筛中铜、铝元素含量及铜铝比、硅铝比的测定方法

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