申请/专利权人:深圳安格仪器有限公司
申请日:2021-10-26
公开(公告)日:2023-03-14
公开(公告)号:CN218630141U
主分类号:G01R31/66
分类号:G01R31/66
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2023.03.14#授权
摘要:本实用新型涉及键盘按键接触点测试的技术领域,公开了凸台式键盘按键接触点测试结构,包括凸台、载板和键盘按键导电膜,凸台与载板呈连接布置,键盘按键导电膜具有多个键盘按键接触点,键盘按键接触点用于使电路导通,键盘按键接触点受压实现测试,键盘按键导电膜铺设载板布置,凸台朝向键盘按键导电膜方向呈凸起布置,键盘按键接触点与凸台呈上下对应且抵触布置。凸台与键盘按键接触点呈对应布置,在凸台与键盘按键导电膜的配合作用下,有助于增加测试准确性及更容易测试,并且,在凸台的作用下,使得测试所需的重量更准确反馈,不容易受面积应力干扰和影响,便于反馈信号的接收,便于键盘按键接触点的测试,提高键盘按键接触点的测试精准性。
主权项:1.凸台式键盘按键接触点测试结构,其特征在于,包括凸台、载板和键盘按键导电膜,所述凸台与所述载板呈连接布置,所述键盘按键导电膜具有多个键盘按键接触点,所述键盘按键接触点用于使电路导通,所述键盘按键接触点受压实现测试,所述键盘按键导电膜铺设所述载板布置,所述凸台朝向所述键盘按键导电膜方向呈凸起布置,所述键盘按键接触点与所述凸台呈上下对应且抵触布置。
全文数据:
权利要求:
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