申请/专利权人：日达智造科技(如皋)有限公司

申请日：2022-11-10

公开（公告）日：2023-03-14

公开（公告）号：CN218629336U

主分类号：G01N3/20

分类号：G01N3/20;G01N3/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.03.14#授权

摘要：本实用新型折弯检具及折弯检具组，包括基座，基座上端面为水平设置的基准面；所述基准面上设置有至少一定位块和至少一推块，所述推块滑动设置于所述基准面上，所述定位块设置在所述推块的滑动路径上并且一端面与所述推块相配合抵靠，所述定位块与所述推块的抵靠处开设有折弯倒角。第一夹持面、抵靠面垂直于基准面，能保证夹持在其中的小件始终处于相对于基准面垂直的状态，从而使小件在折弯倒角处的折弯角度精确、检测结果真实。

主权项：1.折弯检具，包括基座1，上端面为水平设置的基准面；其特征在于，所述基准面上设置有至少一定位块2和至少一推块3，所述推块3滑动设置于所述基准面上，所述定位块2设置在所述推块3的滑动路径上并且一端面与所述推块3相配合抵靠，所述定位块2与所述推块3的抵靠处开设有折弯倒角35。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 日达智造科技(如皋)有限公司 折弯检具及折弯检具组

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