申请/专利权人：上海移远通信技术股份有限公司

申请日：2022-09-15

公开（公告）日：2023-03-14

公开（公告）号：CN218629971U

主分类号：G01R23/02

分类号：G01R23/02;G01R15/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.03.14#授权

摘要：本实用新型涉及晶体频率测试技术领域，公开了一种晶体频率测试装置，包括射频连接件，用于将所述待测晶体连接至所述测试设备，定位结构，用于固定连接所述射频模组，安装结构，可活动地设置在所述定位结构上，所述射频连接件固定安装于所述安装结构上。本实用新型还公开了一种晶体频率测试系统，包括上述晶体频率测试装置，可以提高晶体频率测试精度，满足在高低温环境下的测试需求。

主权项：1.一种晶体频率测试装置，用于测试射频模组待测晶体的晶体频率，其特征在于，包括：射频连接件，用于将所述待测晶体连接至所述测试设备；定位结构，用于固定连接所述射频模组；安装结构，可活动地设置在所述定位结构上，所述射频连接件固定安装于所述安装结构上。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海移远通信技术股份有限公司 晶体频率测试装置及系统

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